JTAG/Boundary Scan-Test Warum das Boundary-Scan-Verfahren so genial ist und was es voraussetzt

Autor / Redakteur: Mario Berger* / Claudia Mallok

Experten bezeichnen JTAG/Boundary Scan als genialstes Testverfahren, das ähnlich dem In-circuit-Test in der Schaltung testet und den Fehlerort aufspürt - auch unter BGAs. Dabei kommt der Test mit gerade mal vier Steuerleitungen und einer Handvoll wichtiger „Design For Testability“-Regeln aus. Um die Boundary-Scan-Philosophie anzuwenden, reicht es, wenn einzelne ICs in der Baugruppe Boundary-Scan-fähig sind; und davon gibt es mittlerweile Tausende.

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Boundary Scan bedeutet soviel wie „Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises“. JTAG/ Boundary Scan ist das wohl genialste elektrische Testverfahren. Es ist der Sprung vom physikalischen Zugriff auf die Leiterbahnen einer Baugruppe (wie beim In-Circuit Test) mit all seinen physischen Grenzen hin zum elektrischen und somit grenzenlosen Zugriff.

Ein Boundary-Scan-Testentwickler muss sich heute nicht mehr zwingend mit jedem einzelnen Detail des Verfahrens beschäftigen, da moderne, auf Bauteilmodellen basierende Tools den Großteil der Arbeiten für ihn übernehmen. Die folgenden 6 Kapitel veranschaulichen das Prinzip und die Möglichkeiten des Boundary-Scan-Test.

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