Logo
28.05.2019

Artikel

Der Drain-Source-Widerstand eines MOSFETs

Der Test von Hochleistungs-Halbleitern ist für Entwickler nicht immer einfach. Wir zeigen Vor- und Nachteile beim Messen des Drain-Source-Widerstands RDS(on) mit Gleichstromquellen und Strom-Pulsquellen.

lesen
Logo
17.10.2018

Artikel

PXIexpress Hybrid Chassis mit einer HE und Triggeroption

In vielen Testsystemen ist Platz eine wertvolle Ressource.

lesen
Logo
03.05.2017

Artikel

Messgenauigkeit und Messbereiche im dynamischen AC-Messfall

Wer in der Messtechnik unterwegs ist, der kommt um Messfehler und Messungenauigkeiten nicht herum. In unserem Beitrag zeigen wir die Auswirkungen im dynamischen AC-Messfall.

lesen
Logo
31.03.2017

Artikel

Testabläufe echtzeitfähig anbinden

Mit einer frei konfigurierbaren Trigger-Karte auf Basis von PXIexpress lassen sich Testabläufe echtzeitfähig anbinden.

lesen
Logo
20.02.2017

Artikel

Ungenaue Ergebnisse bei isolierten und nicht isolierten Messgeräten vermeiden

Bei statischen Messungen (DC) für isolierte und nicht isolierte Messgeräte kann es zu Ungenauigkeiten bei der Messung kommen. Wir zeigen, was dafür die Gründe sein können.

lesen
Logo
16.11.2016

Artikel

So wählen Sie Oszilloskop, Digitizer und DMM aus

Ist das geeignete Messverfahren gewählt und steht der Prüfaufbau fest, dann muss das Messgerät ausgewählt werden: Oszilloskop, Digitizer oder DMM. Wir geben Tipps bei der Auswahl der Geräte.

lesen
Logo
23.08.2016

Artikel

Digitizer mit 24-Bit-Auflösung und 40 MS/s für 250 V und 2 A

VX Instruments erweitert ihr Produktportfolio um die Familie PXM782x Multi-Measurement Device.

lesen
Logo
01.04.2016

Artikel

Potenzialfreie Signalformen bis 30 V für Labor und Produktion

Eine Samplerate von 100 MS/s und eine Auflösung von 16 Bit bieten die Arbitrary-Waveform-Generator-Familie PXAe722x von VX Instruments.

lesen
Logo
10.09.2015

Artikel

Mit PXI-Technik hohe Ausgangsleistungen steuern

Testsysteme auf Basis der Schnittstellen PCI- und PXI-Express sind in der Lage, Ausgangsleistungen im Kilowatt-Bereich zu steuern. Wir zeigen Ihnen die Vorteile.

lesen
Logo
14.11.2014

Artikel

Modulares Testsystem für den in-line Produktionstest

VX Instruments stellt mit dem AXS8400 eine SMU vor, die als in-line Produktionstest für Halbleiter-, IGBT-, LED- und Kontakt-Tests verwendet wird.

lesen
Logo
18.09.2014

Artikel

Module lassen sich nach Kundenwunsch anpassen

Ihr Konzept der FlexCPP (Flexible Configurable PXI-Plattform) erweitert VX Instruments auf den VXI-Bus.

lesen
Logo
01.04.2014

Artikel

Spannungen bis 500 Vpp bei gleichzeitiger Potenzialfreiheit

In Zeiten von Hybrid-Antrieben und höheren Boardnetzspannungen müssen im Produktionstest Signale mit Spannungen bis mehrere hundert Volt digitalisiert werden.

lesen
Logo
07.10.2013

Artikel

Welche Vorteile die potenzialfreie Messtechnik bietet

Potenzialfreie Messtechnik erhöht die Messgenauigkeit. Stimuli- oder Messgeräte – isolierte Kanäle vermeiden Masseprobleme. Wir stellen Ihnen verschiedene Beispiele vor.

lesen