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Verfeinerter Boundary-Scan-Test spart Zeit und Geld

| Redakteur: Dr. Anna-Lena Gutberlet

Um den Kunden eine passgenaue Lösung zu präsentieren, suchen die Mitarbeiter von Kraus Hardware immer nach neuen Möglichkeiten, um Standardtestverfahren und Technologien zu erweitern.

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Durch die Einbindung von Standardmessgeräten in den Boundary-Scan-Prüfablauf wird die Funktion der Baugruppe geprüft und darüber hinaus die tatsächliche Stromaufnahme protokolliert. Im Fehlerfall wird bei unzulässig hoher Stromaufnahme die Versorgungsspannung schnell getrennt.
Durch die Einbindung von Standardmessgeräten in den Boundary-Scan-Prüfablauf wird die Funktion der Baugruppe geprüft und darüber hinaus die tatsächliche Stromaufnahme protokolliert. Im Fehlerfall wird bei unzulässig hoher Stromaufnahme die Versorgungsspannung schnell getrennt.
(Bild: Kraus Hardware)

Kraus Hardware bietet neben der Fertigung komplexer elektronischer Baugruppen auch Serviceleistungen als Testhaus mit umfangreichen Möglichkeiten an. Bei den Testverfahren setzt Kraus auf die Kombination der unterschiedlichen optischen und elektronischen Testverfahren wie Manuelle Optische Inspektion (MOI), Flying Probe In-Circuit Test (ICT) , Boundary-Scan-Test (BST), Automatische Optische Inspektion (AOI), Automatische Röntgenanalysen in 2,5 oder auch 3D Computer Tomographie (CT). So ergeben sich zum Beispiel bei einer Kombination von ICT mit BST eine Zeitersparnis von bis zu 50 Prozent, verbunden mit höherer Prüfabdeckung.

Aber Kraus hat auch noch mehr Möglichkeiten anzubieten wie protokollieren und archivieren in der Traceability der Chip-ID, Hersteller Code oder beschreiben von Speicherchips. So gab es gerade eine Kundenforderung, den Eingangsstrom seiner Schaltung zu messen und zu protokollieren.

Wie ganz individuelle Testlösungen bei Kraus aussehen, wird an dem aktuellen Beispiel aus dem Bereich Boundary-Scan deutlich. Durch den ergänzenden Einsatz zusätzlicher bewährter Standard-Messgeräte wird die Prüfabdeckung des BS deutlich erweitert und damit präziser. Denn der BS ist grundsätzlich ein langsames elektronisches Verfahren zum Testen digitaler und analoger Baugruppen auf die über ein serielles Schieberegister auf bestimmte Punkte der Schaltung zugegriffen wird.

Grundsätzlich ist es möglich, die Geschwindigkeit des Testverfahrens zu erhöhen, zum Beispiel mit speziellen IP-Cores, die auf die internen Strukturen von Prozessoren und FPGAs zugreifen. Das muss unabhängig vom IP-Core immer beim BS so sein. Und wie bei jedem Testverfahren stößt der Prüfer an Grenzen, denn das Testverfahren das alle Fehler findet gibt es (noch) nicht. Und hier ortete Benjamin Ruß, Entwickler bei Kraus das Problem der Nicht-Testbarkeit: Durch den hohen Spannungsabfall, der durch den zu hohen Innenwiderstand am Multimeter entsteht. Hier wurde er zum Problem der „Nicht-Testbarkeit“.

„Diesen spezifischen Anwendungsfall haben wir im Team diskutiert und eine effiziente Lösung theoretisch entwickelt und professionell umgesetzt“, stellt Benjamin Ruß fest. „Wir haben die beiden bewährten Standardmessgeräte Multimeter und Oszilloskop zusammen mit Strom-Messzange zusammen in den Boundary-Scan-Prüfablauf eingebunden“.

Durch diese Koppelung wurde einerseits die Funktion der Baugruppe geprüft und darüber hinaus die tatsächliche Stromaufnahme protokolliert und alle geforderten Parameter ausgelesen. Im Fehlerfall wird bei unzulässig hoher Stromaufnahme die Versorgungsspannung schnell getrennt.

„Das Beispiel zeigt sehr eindrücklich unsere Arbeitsweise“, erklärt Andreas Kraus, Geschäftsführer und Gründer von Kraus Hardware. „Wir verfügen einerseits über ein sehr breites Knowhow und Erfahrungswissen. Andrerseits suchen wir immer nach neuen Lösungen, um Verfahren und Technologien zu erweitern. Letztlich geht es immer darum, dem Kunden eine passgenaue Lösung zu präsentieren.

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