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Optische Spektrumanalyse Verbesserte Analyse dicht beieinander liegender Emissionslinien

| Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Einen gitterbasierten optischen Spektrumanalysator (OSA) für Wellenlängen >3 µm stellt Yokogawa vor. Das Gerät überzeugt nicht nur bei der Messgeschwindigkeit, sondern auch bei der Datenanalyse.

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Das Modell AQ6376 von Yokogawa trennt dicht beieinander liegende Emissionslinien besser voneinander.
Das Modell AQ6376 von Yokogawa trennt dicht beieinander liegende Emissionslinien besser voneinander.
(Bild: Yokogawa)

Einen optischen Spektrumanalysator für Wellenlängen über 3 µm, für Messungen im kurzwelligen Infrarot (short wavelength) mit 1,4 bis 3,0 µm sowie für das mittlere Infrarot (mid wavelength) von 3,0 bis 8 µm stellt Yokogawa vor.

Das Gerät mit der Bezeichnung AQ6376 ist ein gitterbasierter optischer Spektrumanalysator (OSA) und deckt den Wellenlängenbereich von 1500 bis 3400 nm ab. Er nutzt ein Monochromator Design, welches die Messdynamik durch die Reduktion von Streulicht erhöht und dicht beieinander liegende Emissionslinien noch besser voneinander trennt.

Umfangreiche Messfunktionen

Neben seinen Eigenschaften, Wellenlängen bis 3,4 µm zu messen, bietet das Gerät Messgeschwindigkeiten von bis zu 0,5 s/100 nm, eine Selbstkalibrierung von <2 Minuten und übersichtliche Bedienfunktionen. Dazu gehört eine Funktion, um Messdaten zu protokollieren wie beispielsweise Multi-Peak-Messungen mit bis zu 10.000 Messungen innerhalb eines definierten Intervalls inklusive Zeitstempel. Die Messdaten lassen sich grafisch oder in einer Tabelle anzeigen.

Dank seiner technischen Eigenschaften eignet sich die Messlösung für die wissenschaftliche Forschung und für Hersteller optischer Geräte in der Umweltüberwachung sowie der Bio- und Medizintechnik.

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