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Geräte und Baugruppen entstören Ursachen von Störfestigkeitsproblemen finden und beseitigen

| Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

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(Langer EMV)

Das Entwicklungssystem Störfestigkeit (E1) von Langer EMV ist ein Werkzeug für Elektronikentwickler mit dem Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ESD) von Baugruppen durchgeführt werden können. Das E1 ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnitten. Der Entwickler kann damit an seinem Arbeitsplatz Geräte/Baugruppen entstören oder weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann. Die Störfestigkeitsuntersuchung einer Baugruppe nach der Norm IEC 61000-4-4 und IEC 61000-4-2 ist ein Ausgangspunkt. Die während der Prüfung nach Norm vom Standard-Burstgenerator erzeugten Störgrößen werden auf die Zuleitungen des Prüflings eingekoppelt und fließen über Masse zum Generator zurück. Dabei fließen die pulsförmigen Störgrößen auf unbekannten Wegen durch die Gerätebaugruppe. Im Gerät trifft ein unbekannter Anteil dieser Störgrößen auf eine unbekannte Störsenke und generiert einen Funktionsfehler. Der Entwickler weiß nicht, ob und wo der Störstrom mit seinem Magnetfeld in einer Leiterzugschleife einen Spannungsimpuls induziert oder elektrisches Feld kapazitiv in empfindliche Leitungen einkoppelt. Aus dem im Normtest auftretenden Fehlerbild lässt sich nicht ablesen, wo genau die Schwachstelle im Prüfling ist. Das entscheidende Ergebnis beim nicht bestandenen Test nach Norm ist die genaue Kenntnis des aufgetretenen Fehlerbildes. Anschließend erfolgt die Ursachenforschung mit dem E1 am Arbeitsplatz des Entwicklers, wobei die Funktionsfehler aus dem Fehlerbild die Orientierung für die Entstörung vorgeben.

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