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Advantest Testlösung für Consumer-ICs auf Basis der offenen Openstar-Architektur

| Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Der Bedarf an Halbleitern wird bis 2010 um durchschnittlich 7% zunehmen. Dabei fallen die SoCs mit über die Hälfte ins Gewicht. Halbleiterhersteller müssen mit günstigeren Fertigungs- und Testkosten dagegenhalten. Advantest hat jetzt auf dem offenen Standard basierend den Tester T2000 für die Consumer-Elektronik entwickelt.

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( Archiv: Vogel Business Media )

Der weltweite Bedarf an Halbleitern wird nach einer Studie von iSuppli von 255 Mrd. US-$ im Jahr 2006 auf 350 Mrd. US-$ im Jahr 2010 mit einem durchschnittlichen Wachstum von 7% steigen. Der größte Anteil des Marktes mit etwa 2/3 fällt hierbei auf SoCs (System on Chip), die sich in eine Vielzahl verschiedenster Produkte und Bauformen aufteilen. Trotz steigender Leistungsfähigkeit fallen die Verkaufspreise für derartige ICs jährlich um ca. 10%. Auf diese Entwicklung müssen Halbleiterhersteller mit einer Reduzierung der Fertigungs- und Testkosten reagieren.

Advantest hat mit dem auf der offenen Architektur (Openstar) basierten T2000 Tester mit LS (Light Star) Mainframe (Bild 1) eine Testlösung für Consumer-ICs entwickelt. Zusammen mit den hochintegrierten 500/800 Mbps (Megabit per second) Digitalmodulen, die ab der zweiten Hälfte 2007 verfügbar sind, lassen sich bereits im kleinen 26-Slot Testkopf über 2000 Testerkanäle realisieren. Je nach Pinzahl des Prüflings sind ein massiver Paralleltest von mehr als 64 ICs und eine Reduzierung der Testkosten mit über 50% möglich. Beide Digitalmodule verfügen außerdem über eine Speichertestfunktionalität zum Test komplexer SoC-Bauteile mit integriertem Speicher und eine DFT-Funktionalität mit der SCAN-Test-Fähigkeit. Die Flexibilität und Skalierbarkeit erlaubt die einfache Anpassung an neue Testanforderungen. So lässt sich die Nutzungsdauer des Testers verlängert.

Hohe Integrationsdichte und Genauigkeit

Das Mixed-Signal-Modul verfügt über 16-Kanäle „16ch BBWGD“ (Bild 2), eine hohe Integrationsdichte und gleichzeitig hohe Genauigkeit. Die Kombination des LS Mainframes mit dem BBWGD-Board, den 500/800–Mbps-Modulen und dem PMU32-Modul zum Test der Linearität von AD-/DA-Wandler bildet eine Gesamtlösung für komplexe SoCs in der Konsumerelektronik. Das LS-Mainframe benötigt wenig Platz und die Testmodule lassen sind einfach austauschen und schnell und unkompliziert an die Anforderungen des jeweiligen Testobjekts anpassen. Alle Konfigurationen lassen sich optimieren und für spezifische Anwendungen einsetzen. Das Testsystem kann auf die jeweilige Testanforderung konfiguriert werden, indem Mainframes, Testköpfe und Module entsprechend kombiniert werden. Alle verfügbaren und zukünftigen Module sind mit den bisherigen Mainframe-Typen (Star Pro, SP und Micro Star, MS) kompatibel.

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