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05.11.2013

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Berührt und gefunden – neues Bedienkonzept soll überzeugen

Schnell und zudem übersichtlich: Keithley hat bei der Entwicklung seines SourceMeters SMU Modell 2450 Kundenwünsche einfließen lassen. Mit Erfolg – die Bedienung wurde vereinfacht.

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14.08.2013

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Keithley verbaut erstmals Touchscreen-Display

Schneller zu Ergebnissen: Mit der SMU 2450 von Keithley sollen die Anwender ohne viel Hardwareerfahrung schneller Ergenisse erzielen können. Dabei hilft das Touch-Display und eine Menübasierte Steuerung.

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18.04.2013

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Testsysteme zum Charakterisieren von Leistungshalbleitern

Unser Beitrag beschreibt das Design und die Konfiguration von Testsystemen, um Leistungshalbleiter mit Gleichstrom zu bestimmen. Dazu helfen Multifunktionsgeräte wie Source Measurement Units.

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24.10.2012

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Sieben Konfigurationen charakterisieren Leistungsbauteile

Von Keithley Instruments kommen sieben Messtechnik-, Software- und Testadapterkonfigurationen zur Charakterisierung von Leistungsbauteilen mit bis zu 3000 V und...

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28.09.2012

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Keithley baut das Messgeräte-Portfolio im unteren Preissegment aus

Der amerikanische Messtechnik-Spezialist zielt bei der Vorstellung von drei neuen Source-Meter-Einheiten und einem Digitalmultimeter vor allem auf Anwender aus Forschung und Entwicklung.

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08.05.2012

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Hochstrom-Tests an High-Brightness-LEDs

Wer an High-Brightness-LEDs Hochstrom-Tests durchführen will, sollte auch einen hohen Teststrom an sein Testobjekt anlegen. Dazu lassen sich zwei SMUs verbinden. Hier gilt es einige Aspekte zu beachten.

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27.04.2012

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S530 mit 48-poliger Kelvin-Schaltkonfiguration

Zusammen mit der Test-Environment-Software KTE V5.4 kann das Parameter-Testsystem S530 jetzt 48-polige Schaltfunktionen sowie mit Optionen zur Pulsgenerierung, ...

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24.04.2012

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Wie sich High-Brightness-LEDs und -Module testen lassen

Für den Test von HB-LEDs sind spezielle SMUs (source measurement unit) notwendig, die Leistungen von mehr als 100 W bieten können. Wir stellen Ihnen ein Gerät vor, das eine kontinuierliche DC-Leistung bis 200 W bietet.

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17.01.2012

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Wie sich der spezifische Widerstand von Materialien bestimmen lässt und was dabei zu beachten ist

Der spezifische Widerstandswert charakterisiert Metalle, Halbleiter und Isolatoren. Um diesen Wert zu bestimmen, sind genaue Messungen notwendig. Allerdings unterscheiden sich die Messaufbauten. Wir zeigen Ihnen verschiedene Möglichkeiten.

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23.09.2011

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Alternative zur Stromversorgung – Kostengünstige Lösung für Tests mit niedriger Spannung

Das SourceMeter-Instrument 2401 von Keithley Instruments eignet sich für hochgenaue Testanwendungen wie die Strom-Spannung-Charakterisierung von Photovoltaik-Ze...

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07.06.2011

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Die Anforderungen ultraschneller I-V-Messverfahren im Bauteiletest

Schnelle Bauteile und verbesserte Testanwendungen: Die Anforderungen an ultraschnelle Quellen/Mess-Möglichkeiten steigen. Testsysteme müssen nicht nur flexibel sondern auch kostengünstig sein.

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06.04.2011

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High-Brightness-LEDs, Leistungshalbleiter oder DC/DC-Wandler testen

Zur Charakterisierung von Leistungselektronik bringt Keithley sein Sourcemeter Modell 2651A heraus. Es verfügt nach eigenen Angaben über den derzeit größten verfügbaren Strombereich.

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04.11.2010

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Für die Schnittstellen-Standards USB und GPIB

Der Schnittstellenadapter KUSB-488B unterstützt Windows 2000/XP/Vista und die standardmäßigen VISA-Bibliotheken, wodurch die Kompatibilität mit VISA-Anwendungen sichergestellt wird.

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30.09.2010

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Mischkonzern Danaher übernimmt Messtechnikspezialisten

Danaher Corporation und Keithley Instruments haben einer gemeinsamen Fusion zugestimmt. Der Aufsichtsrat von Keithley hat diesen Schritt einstimmig genehmigt.

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25.08.2010

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Hohe Ströme messen und einspeisen

SMUs (Source Measure Unit) ermöglichen hoch integrierte Test- und Messsysteme für elektronische Bauteile. In unserem Beitrag zeigen wir Ihnen Verfahren, die nützliche und kostengünstige Alternativen zu Quellen und Messinstrumenten in Form von Einzelgeräten sind.

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01.03.2010

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„Die Weichen für die Zukunft sind gestellt“

Wie viele andere Unternehmen der Elektronikbranche musste auch Keithley im vergangenen Jahr schmerzhafte Einschnitte hinnehmen. Nach dem Verkauf der HF-Sparte an Agilent und weiteren Sparmaßnahmen konnten zum Jahresende 2009 sämtliche Schulden abgebaut werden. ELEKTRONIKPRAXIS sp...

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18.02.2010

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Modell 4225-PMU charakterisiert Testaufbauten in einem Gerät

Keithley erweitert mit dem Ultra Fast-I-V-Modul Modell 4225-PMU seine umfassende Palette von Messoptionen für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS. Mit einem Gerät soll es möglich sein, Bauteile, Materialien und Prozesse zu charakterisieren.

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16.02.2010

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Optimistische Aussichten für Messgeräte-Spezialist

Die Zahlen von Keithley lassen hoffen: Im ersten Quartal des Geschäftsjahres 2010 konnte der amerikanische Messgerätehersteller einen Umsatz von 28,4 Mio. US-$ verbuchen. Das ist immerhin ein Anstieg von 18% im Vergleich zum letzten Quartal.

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26.11.2009

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Verkauf der gesamten HF-Produktlinie an Agilent Technologies

Keithley Instruments wird seine komplette HF-Produktlinie an Agilent verkaufen. Dazu haben beide Unternehmen bereits eine Vereinbarung unterzeichnet. Grund sind die hohen Investitionen in die HF-Messtechnik, die Keithley nicht länger fortsetzen will. Das schließt auch verbundende...

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02.10.2009

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2920A schaltet zwischen Frequenzen in weniger als 300 Mikrosekunden

Mit dem 2920A stellt Keithley einen HF-Vektor-Signalgenerator vor, der nach eigenen Angaben eine deutlich schnellere Frequenz- und Amplituden-Umschaltung als andere Systeme erlaubt. So schaltet er in weniger als 300 µs zwischen den Frequenzen.

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07.09.2009

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Version 1.1 der ACS Basic Edition für mehr Spannungs- und Stromtestmöglichkeiten

Die Version 1.1 der ACS Basic Edition, die zur Automated Characterization Suite von Keithley gehört, unterstützt in der aktuellen Version mehr DC-Spannungs- und Strom-Testmöglichkeiten.

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08.05.2009

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Netto-Umsatzeinbruch von 40 Prozent und weltweiter Arbeitsplatzabbau von 11 Prozent

Der Messtechnikspezialist Keithley Instruments hat seine Ergebnisse für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2009 bekannt gegeben, das am 31. März 2009 endete: Das Unternehmen musste einen Umsatzrückgang von 40% hinnehmen. Ebenfalls rückläufig waren die Auftragseingänge in den ...

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07.05.2009

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Verbindungslösung für I-V-, C-V- und gepulste I-V-Signale

EIne Verbindungslösung für I-V-, C-V- und gepulste I-V-Signale über ein einziges Kabelset stellt Keithley vor. Die Kabelsets basieren auf einem zum Patent angemeldeten Design, das

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19.02.2009

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Messtechnikspezialist startet mit Einbußen ins neue Geschäftsjahr

Der Messtechnikspezialist Keithley hat für das abgelaufene Geschäftsjahr seine Zahlen vorgestellt. In allen Unternehmensbereichen mussten Einbußen verzeichnet werden. Allerdings greifen die laufenden Kostensenkungen, um die Liquidität zu erhöhen.

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12.02.2009

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Wie sich mit Impedanzeffekten komplexe Bauteile testen lassen

Impuls-/Pattern-Generatoren können über ihre Grundeinstellungen hinaus so eingestellt werden, dass sich ihre Ausgangssignale an jeweilige Anforderungen anpassen lassen. Impedanzeffekte können dazu benutzt werden, das Verhalten eines Bauteils zu überprüfen. Wir zeigen Ihnen, wie d...

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27.01.2009

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Europäischer Markt ist von Sparmaßnahmen des Unternehmens weniger betroffen

Aus der anfänglichen Finanzkrise hat sich in den letzten Monaten eine weltweite Wirtschaftskrise entwickelt. Viele Elektronikfirmen sind mittlerweile direkt von ihren Auswirkungen betroffen. Der Messtechnikspezialist Keithley reagiert mit Kostensenkungen.

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15.12.2008

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Sinunsfrequenz von maximal 50 MHz erzeugen

Mit dem Funktionsgenerator Modell 3390 stellt Keithley ein Gerät vor, das eine maximale Sinusfrequenz von 50 MHz erzeugen kann. Seine Impulsfrequenz liegt bei 25 MHz mit einer minimalen

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15.12.2008

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Kennlinienschreiber-Funktion und umfassende Bibliothek

Mit der ACS Basic Edition von Keithley kommt eine Charakterisierungs- und Kennlinienschreiber-Software für Bauteiltest-Anwendungen auf den Markt.

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29.09.2008

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Von Stromversorgung bis Digitalmultimeter

Mit der SourceMeter-Familie 2600A stellt Keithley eine Geräteserie vor, die Präzisionsstromversorgung, Stromquelle, Digitalmultimeter (DMM), AWG (Arbitrary Waveform Generator), U- oder I-Impulsgenerator mit Messmöglichkeit und elektronische Last oder Trigger-Controller vereint.

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28.08.2008

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8×8-Testlösung oder für Einzelgeräte

Nachdem Keithley Ende 2007 sein 4×4-Testsystem vorgestellt hat, basiert die 8×8-Lösung auf der gleichen Plattform. Somit stehen für Testanwendungen zwei bis acht Kanäle zur Verfügung.

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19.08.2008

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WiMAX-Signale generieren und analysieren

Keithley bietet ein kostenloses Poster an, mit dessen Hilfe WiMAX-Signale problemlos generiert und analysiert werden können. Es werden vielfältigen RF-Testmöglichkeiten zum Erstellen

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30.07.2008

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22 Prozent Umsatzwachstum für das dritte Quartal im Geschäftsjahr 2008

Die aktuellen Umsatzzahlen für das dritte Quartal 2008 hat der Messtechnik-Spezialist Keithey bekannt gegeben. Im Vergleich zum Vorjahreszeitraum beträgt der Nettoverlust 39.000 US-$. Trotz der Zahlen sieht Keithley ein Wachstum in der Halbleiterindustrie und will weiter investie...

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29.07.2008

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Leitfaden für Wireless- und RF-Tests

Mit „Advanced Measurement Techniques for OFDM- and MIMO-based Radio Systems: Demystifying WLAN and WiMAX Testing“ stellt Keithley einen Leitfaden für Wireless- und RF-Tests vor. Auf

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27.06.2008

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Erweiterte Tools für Vektor-Signalanalysatoren

Spezielle Tools für RF-Testfunktionen an WiMAX-Signalen stellt Keithley vor. Als Hardwareplattform dienen die Vektor-Signalanalysatoren Modell 2820 RF und Modell 2920 mit ihrer DSP-basierten

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26.06.2008

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Software erstellt komplexe RF-Signalformen bis 6 GHz

Mit dem SignalMeister 2.0 von Keithley steht dem Anwender eine objektorientierte grafische Bedienoberfläche (GUI) zur Verfügung. Es können beliebig komplexe RF-Signalformen bis 6 GHz

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26.06.2008

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Gemeinsame Entwicklung von LTE- und WiMAX-Testlösungen

Eine strategische Partnerschaft für LTE- und WiMAX-Systeme sind der Messtechnik-Spezialist Keithley und die auf drahtlose Breitband-Testlösungen spezialisierte Azimuth Systems eingegangen.

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21.05.2008

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Impulstest schützt Strukturen auf molekularer Ebene vor Schäden

Für die immer kleiner werdenden elektronischen Bauteile ist es notwendig, dass sie in ihren Funktionen überprüft werden. Doch herkömmliche Verfahren sind ungeeignet und können die Schaltungen sogar zerstören. Wir stellen Ihnen das Impulstestverfahren vor, mit dem in der Nanoelekt...

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21.05.2008

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Impulstest schützt Strukturen auf molekularer Ebene vor Schäden

Für die immer kleiner werdenden elektronischen Bauteile ist es notwendig, dass sie in ihren Funktionen überprüft werden. Doch herkömmliche Verfahren sind ungeeignet und können die Schaltungen sogar zerstören. Wir stellen Ihnen das Impulstestverfahren vor, mit dem in der Nanoelekt...

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08.05.2008

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Kostenloser Anwenderleitfaden und Applikatinsberichte

Der „Semiconductor Device Test Applications Guide“ von Keithley auf CD enthält neben dem Anwendungsleitfaden verschiedene Informationen zu Halbleiter-Tests wie Applikationsberichte,

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05.05.2008

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Nettoumsatz im zweiten Quartal um 21 Prozent auf 39,9 Mio. US-$ gestiegen

Die Ergebnisse des zweiten Quartals im Geschäftsjahr 2008 stimmen optimistisch: ein gestiegener Nettoumsatz und der schwache Dollar haben dem Messtechnikspezialisten ein erfolgreiches erstes Geschäftshalbjahr ermöglicht.

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