Avalanche-Fotodiode

Si-APD mit 905-nm-Filter

10.10.2007 | Redakteur: Andreas Mühlbauer

Laser Components bietet eine Silizium-Avalanche-Fotodiode (Si-APD) für Abstandsmesssysteme an. Diese Systeme arbeiten nach dem Prinzip des optischen Laufzeitverfahrens (LIDAR). Dabei

Laser Components bietet eine Silizium-Avalanche-Fotodiode (Si-APD) für Abstandsmesssysteme an. Diese Systeme arbeiten nach dem Prinzip des optischen Laufzeitverfahrens (LIDAR). Dabei sendet eine 905-nm-Impulslaserdiode einen Laserpuls aus, der an einem Objekt reflektiert und über eine Optik auf den APD-Chip fokussiert wird. Um ein optimales Signal-/Rausch-Verhältnis zu erreichen, musste bislang ein externer Bandpassfilter vor die APD oder die Optik montiert werden, der das Umgebungslicht unterdrückte.

Bei der neuen SARF-Serie von Laser Components ist dieser Filter bereits im TO-Gehäuse integriert. Der 230- oder 500-µm-APD-Chip ist für 905 nm optimiert, um eine möglichst gute Performance bei dieser Wellenlänge zu erreichen. Die Si-APD mit filter ermöglicht günstigere und kleinere Bauformen. Die APD-Filter-Lösung ist im modifizierten TO-46- und SMD-Gehäuse erhältlich.

Laser Components, Tel. +49(0)8142 28640

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