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Reflektierende Metallteile schneller inspizieren

| Redakteur: Dr. Anna-Lena Gutberlet

Die sogenannte MIX-Beobachtungsfunktion des Mikroskop GX53 von Olympus ermöglicht die klare Abbildung von Strukturen und Oberflächen­eigen­schaften von Proben, die sonst schwer zu betrachten sind.

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Das neue GX53 Invertierte Metallurgische Mikroskop von Olympus bietet MIX-Beobachtung für eine klare Abbildung von Strukturen und Oberflächeneigenschaften und eine LED-Lichtquelle für naturgetreue Bilder mit konstanter Farbtemperatur.
Das neue GX53 Invertierte Metallurgische Mikroskop von Olympus bietet MIX-Beobachtung für eine klare Abbildung von Strukturen und Oberflächeneigenschaften und eine LED-Lichtquelle für naturgetreue Bilder mit konstanter Farbtemperatur.
(Bild: Olympus)

Konzipiert für die Beobachtung und Inspektion von Metallkomponenten, verfügt das neue inverse Mikroskop Olympus GX53 über eine LED-Lichtquelle mit langer Lebensdauer und geringem Stromverbrauch.

Mit inversen Mikroskopen werden Proben von unten beobachtet, so dass auch dicke oder schwere Proben untersucht werden können. Dies macht das Mikroskop GX53 zu einem praktischen Werkzeug beispielsweise für die Betrachtung der Mikrostruktur von Metallen.

Durch den Einsatz der MIX-Beobachtungstechnologie soll das GX53-Mikroskop in der Lage sein, Bilder von Oberflächenstrukturen mit außergewöhnlicher Klarheit zu erzeugen. Die MIX-Technologie kombiniert Dunkelfeld mit anderen Beobachtungsmethoden, wie Hellfeld, Fluoreszenz oder Polarisation.

Die ringförmige LED-Beleuchtung zur Dunkelfeldbeobachtung hat eine Richtungsfunktion, bei der ein oder mehrere Quadranten zu einem bestimmten Zeitpunkt beleuchtet werden. Dies reduziert die Halation einer Probe und dient der Visualisierung ihrer Oberflächenstruktur.

Die aktualisierte Version der OLYMPUS Stream-Bildanalyse-Software nutzt die Bildsynthese, um auch bei stark reflektierenden Proben klare Bilder mit minimaler Halation zu liefern.

Die OLYMPUS Stream Image Analysis Software v. 2.3 unterstützt jeden Schritt des Inspektionsprozesses, von der Vorbereitung des Mikroskops bis zur Beobachtung, Analyse und Berichterstattung. Die neueste Version bietet mehr Lösungen für mehr Flexibilität - einschließlich eines neuen, verbesserten Algorithmus für die EFI-Funktion (Extended Focal Image), der das gesamte Sichtfeld in den Fokus rückt. Die Softwareversion entspricht den Industriestandards (ASTM, ISO).

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