PXI-Messkarte

Oszilloskop PXIe-5164 lässt sich mit FPGA konfigurieren

| Redakteur: Hendrik Härter

Das PXIe-5164 von National Instruments ist ein rekonfigurierbares Oszilloskop mit zwei Eingangskanälen für Spannungen bis 100 Vpp CAT II.
Das PXIe-5164 von National Instruments ist ein rekonfigurierbares Oszilloskop mit zwei Eingangskanälen für Spannungen bis 100 Vpp CAT II. (Bild: National Instruments)

Das PXIe-5164 ist ein rekonfigurierbares Oszilloskop mit zwei Kanälen mit jeweils 1 GS/s und einer Bandbreite von 400 MHz. Abgetastet werden die Signale mit 14 Bit.

Ein Hochgeschwindigkeits-Oszilloskop im PXI-Formfaktor bringt National Instruments mit dem PXIe-5164 auf den Markt. Es enthält einen programmierbaren FPGA, womit es sich individuell anpassen lässt. Mit dem PXI-Modul lassen sich hohe Spannungen hochgenau messen. So werden beispielsweise bei Spannungssignalen bis 100 Vpp mit bis zu 1 GS/s auch kleine Signalbestandteile sichtbar. Ausgestattet ist die Karte mit zwei Eingängen, die eine Auflösung des verbauten A/D-Wandlers von 14 Bit bieten.

In einem PXI-Chassis lassen sich bis zu 34 Kanäle zusammenfügen, um parallele Messsysteme mit einer hohen Kanaldichte zu erreichen. Über das Softfrontpanel des mitgelieferten Treibers NI-Scope kann der Anwender einfach messen, automatisierte Anwendungen auf Fehler untersuchen und bereits erfasste Oszilloskopdaten anzeigen. Der Treiber umfasst zudem Hilfedateien, Dokumentation und lauffähige Beispielprogramme, welche den Anwender unterstützen. Über die Programmierschnittstelle lässt sich Code aus C, .NET und LabVIEW übertragen. Die PXI-Oszilloskope lassen sich mit der Testmanagement-Software TestStand einsetzen.

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