Oszilloskop-Plattform unterstützt 56 und 28 GBaud

Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Eine modulare Testplattform für optische Transceiver stellt Tektronix mit der Serie 8 vor. Es besteht aus einem Oszilloskop und einem optischen Modul zur Taktrückgewinnung.

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Die Sampling-Messplattform Serie 8 ist modular aufgebaut und besteht aus einem Oszilloskop, Sampling-Modulen sowie einer Software-Plattform.
Die Sampling-Messplattform Serie 8 ist modular aufgebaut und besteht aus einem Oszilloskop, Sampling-Modulen sowie einer Software-Plattform.
(Bild: Tektronix)

Die Sampling-Plattform Serie 8 von Tektronix ist eine modulare Geräteserie, mit der sich parallel optische PAM4-Signale auf vier Kanälen pro Hauptgerät erfassen lassen. Aufgebaut ist die Serie aus einem Abstastoszilloskop mit der Bezeichnung TSO820, optischen Sampling-Modulen sowie einer speziellen Software-Plattform TSOVu. Das Besondere an der Software ist, dass sie unabhängig von der Messhardware auf dem Host-PC die Messdaten live oder offline verarbeiten kann. Diese Softwarelösung bietet eine neue Architektur für Mess-Plug-ins, mit der schnelle Iterationen aufgezeichneter sowie vom Kunden definierter Messungen möglich sind.

Außerdem stellt Tektronix noch das Modul TCR801 vor. Ein sogenanntes externes, optische Modul für die Taktrückgewinnung. Es deckt das Dual-Band sowohl mit 26 als auch 53 GBaud ab. Es funktioniert mit aktuellen und vorhandenen Prüfgeräten, einschließlich TSO820 und DSA8300. Das externe Monomode-Gerät verfügt über einen optischen FC/PC-Anschluss für PAM4 und NRZ und verwendet externe optische Splitter.

Das eigentliche Mainframe ist ein kompaktes Messinstrument mit einer Höhe von 3HE. Somit eignet sich die Serie 8 in der Fertigung von optischen Komponenten, wenn Entwickler neue Analysefunktionen hinzufügen wollen oder bestehende Prüfsysteme neu konfiguriert werden sollen. Beispielsweise wenn neue Standards veröffentlicht werden und die Messtechnik angepasst werden muss. Offline-Modi und Fernzugriff sind mit dem Geräte möglich und erweitern die Analyse- und Visualisierungsfunktionen des TSO820 über ein Oszilloskop hinaus. Somit ist ein nahtloser Übergang von der Designphase zum Debugging, Charakterisierung bis zum Fertigungstest möglich.

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