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A/D-Wandler Neuer Highspeed-Datenwandler: Schnell und mit großer Bandbreite

| Redakteur: Richard Oed

Um die Anforderungen künftiger Prüf-, Mess- und Wehrtechnik-Anwendungen erfüllen zu können, hat Texas Instruments einen neuen 12-Bit-A/D-Wandler vorgestellt.

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Mit einer Abtastrate von 10,4 GSamples/s ist der ADC12DJ5200RF von Texas Instruments für die schnelle Mess- und Prüftechnik geeignet.
Mit einer Abtastrate von 10,4 GSamples/s ist der ADC12DJ5200RF von Texas Instruments für die schnelle Mess- und Prüftechnik geeignet.
(Bild: Texas Instruments)

Mit einer Bandbreite von 8 GHz und einer Abtastrate von 10,4 GSamples/s im Einkanalmodus deckt der ADC12DJ5200RF den für 5G-Testanwendungen, Oszilloskope und der X-Band-Abtastung in Radar-Anwendungen notwendigen breiten Frequenzbereich ab. Im Zweikanalmodus arbeitet der Wandler mit einer Abtastrate von 5,2 GSamples/s und erfasst eine Momentanbandbreite (IBW) von 2,6 GHz (5,2 GHz im Einkanalmodus). Die Leistungsaufnahme beträgt 4 W, als Offsetfehler werden ±300 µV angegeben.

Da der Wandler das JESD204C-Standardinterface unterstützt, reduziert sich die Zahl der Serializer/Deserializer-Lanes, die zur Ausgabe der Daten an FPGAs benötigt werden.

Der Baustein wird in einem 10 mm x 10 mm großen FCBGA-Gehäuse (Flip-Chip Ball Grid Array) mit 144 Anschlüssen angeboten, Muster sind bereits verfügbar. Testen lässt sich der Chip mit den beiden Evaluations-Modulen ADC12DJ5200RFEVM undTSW14J57EVM.

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