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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältige Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältigen Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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19.09.2016

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Vereinfacht mit LabVIEW 2016

National Instruments (NI) stellt die Systemdesignsoftware LabView 2016 vor, die eine vereinfachte Anwendungsentwicklung und effizientere Integration von Software aus dem NI-Ökosystem ermöglicht. Diese Version bietet jetzt Kanalverbindungen, mit denen sich der komplexe Datenaustau...

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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01.09.2016

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Eine flexible Prüflösung für drahtlose Kommunikationsstandards

Im Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation von National Instruments arbeitet ein leistungsstärkerer FPGA. Die Prüflösung ist vor allem für die drahtlose Kommunikation interessant.

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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23.08.2016

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21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

Vom 26. bis 28. Oktober lädt National Instruments zu seinem 21. VIP Kongress. Die Teilnehmer können sich an zwei Kongresstagen inklusive Ausstellung über die aktuellen Entwicklungen informieren.

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22.08.2016

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Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Ein schnellerer Testdurchsatz bei der optischen Inspektion ist dank besserer Prozessoren kein Problem. Zudem wird die Bildverarbeitung bei der Inspektion dank FPGAs effizienter.

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28.07.2016

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Vektorsignal-Transceiver für anspruchsvolle RF-Prüfanwendungen optimiert

Um den komplexen und rasch wechselnden Prüfanforderungen im RF-Bereich gerecht zu werden, stellt National Instruments einen Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation vor. Neben einer fünffachen Bandbreite und 33 Prozent weniger Platzbedarf lässt sich der größere FPGA indivi...

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12.07.2016

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Zweite Generation des Vektorsignal-Transceivers für schnellere HF-Tests

Mit dem NI PXIe-5840 präsentiert National Instruments die zweite Generation seines Vektorsignal-Transceivers. Neben einer höheren Bandbreite ist es der verbaute FPGA, mit dem sich eine individuelle Programmierung umsetzen lässt.

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