Millimeterwellen: UVX-Serie mit Breitbandanalysator bis 110 GHz

Für breitbandige Millimeterwellen und um diese zu messen, bietet Keysight für seine Oszilloskop-Serie UXR bis 110 GHz einen Breitbandanalysator für Millimeterwellen.

Firmen zum Thema

Keysight Technologies Deutschland GmbH

MEV Elektronik Service GmbH

bsw TestSystems & Consulting AG

Für das Oszilloskop UXR bietet Keysight die Möglichkeit, breitbandige Millimeterwellen zu messen. Das Messgerät analysiert schnell und kohärent Bandbreiten bis 110 GHz. Es ist aktuell der Bedarf an Bandbreite von mehreren 10 GHz. Technologien wie 802.11ay (WiGig), 802.11ad (Gigabit Wireless), Satellitenkommunikation, Radar und 5G nutzen Frequenzen weit im Millimeterwellen-Spektrum.

Bisher waren für solche Messungen Kombination aus Messgeräten und Abwärtsmischern notwendig oder die Anschaffung eines teuren Oszilloskops mit 1-mm-Eingang und einer Bandbreite von 80 bis 110 GHz nötig.

Digital Down Conversion

Das Oszilloskop bietet die Möglichkeit, optionale 5-GHz- oder 10-GHz-Analysebandbreitenfenster innerhalb und außerhalb der nativ lizenzierten Bandbreite des UXR zu konfigurieren. Begrenzt durch den maximal unterstützten Frequenzbereich der Hardware. Hinzu kommt hardwarebeschleunigtes DDC (Digital Down Conversion), um die Oszilloskop-Erfassungen in Echtzeit zu reduzieren. Damit werden tiefgehende Erfassungen möglich, die mehrere Sekunden dauern, und beschleunigt die Verarbeitung auf das bis zu 100-fache gegenüber nicht-reduzierten Messungen.

Die DDC-Analysebandbreite ist mit mehr als 2 GHz verfügbar. In Verbindung mit den Optionen zur Millimeterwellen-Frequenzerweiterung kann der Entwickler DDC-beschleunigte Frequenzbereiche auf bis zu 110 GHz erweitern. Bei der Signalintegrität bietet das Oszilloskop mit Breitbandanalysator eine Fehlervektorgröße (Error Vector Magnitude von weniger als 0,6% bei FR2-Tests für 5G New Radio (NR) und 1% bei 802.11ay-Technologien. Das bedeutet, dass EVM-Messungen nun die tatsächliche Leistung des Prüflings widerspiegeln, ohne Beeinträchtigungen durch das Rauschen des Messsystems.

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