Mikroskopoptik für IR-Kameras zur Leiterplatteninspektion

| Redakteur: Dr. Anna-Lena Gutberlet

Die optris Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente.
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Die optris Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente. (Bild: Optris)

Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkameras optris PI 450 und PI 640 ermöglicht die genaue und zuverlässige Temperaturmessung an Leiterplatten.

Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Makroaufnahmen mit einer Auflösung von 28 µm fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100 mm variierbar.

Die im Lieferumfang enthaltende hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Fein-Justierung der Kamera. Wichtige Parameter sind die Analyse kleiner Komponenten mit einer Auflösung bis zu 28 µm sowie die Gleichzeitige elektrische Prüfung und thermische Analyse.

Die optris Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente.

Die sehr gute thermische und geometrische Detailauflösung der Kameras zeigt kleinste Temperaturdifferenzen auf und gewährleistet so eine effektive und präzise Funktionsprüfung von Elektronikprodukten.

Die Thermografie-Software optris PI Connect wurde speziell zur umfangreichen Dokumentation und Analyse von Wärmebildern entwickelt. Sie ermöglicht eine thermografische Echtzeit-Analyse und Fernsteuerung Ihrer Wärmebildkamera sowie den Betrieb im Zeilenkamera-Modus.

Zudem unterliegt die Software keinerlei Lizenzbeschränkungen und ermöglicht individuelle Anpassungen an Ihre Anforderungen.

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