Messprobes für IC-Tests: Störfestigkeit auf dem Die untersuchen

| Redakteur: Hendrik Härter

Drei verschiedene Messprobes, um auf die Störfestigkeit zu untersuchen.
Drei verschiedene Messprobes, um auf die Störfestigkeit zu untersuchen. (Bild: Langer EMV)

Drei verschiedene Messprobes bietet Langer EMV für die Pulseinkopplung in IC-Dies. Damit lassen sich IC auf Störfestigkeit hin untersuchen oder eine Seitenkanal-Analyse.

Spezielle Probes für die Pulseinkopplung in IC-Die, um die Störfestigkeit zu untersuchen oder Seitenkanal-Analysen durchzuführen, bietet Langer EMV das Set ICI L-EFT. Es besteht aus einer Vielzahl von ICI-Feldquellen, die elektrische oder magnetische Felder sowie kontaktierte Stromimpulse in einem offenen Die einkoppeln. Damit lassen sich präzise und hochaufgelöste IC-Analysen anfertigen.

Des Weiteren können Seitenkanalangriffe simuliert werden, um sicherheitskritische Schaltungen zu testen. Zu den Besonderheiten gehört eine Sondenspitze mit 500 μm, mit der sehr kleine Bereiche geprüft werden können. Zudem besitzen die Probes einen geringen Trigger-to-Pulse-Jitter, was eine Störung von sehr spezifischen Punkten im Programmablauf ermöglicht.

Die ICI HH500-15 L-EFT ist eine Magnetfeldquelle, die transiente Impulse mit einer Anstiegszeit von weniger als 2 ns erzeugt. Die E-Feldquelle ICI E450 L-EFT mit einem Elektrodendurchmesser von 450 µm ermöglicht es, einzelne Bereiche im IC selektiv auf elektrische Störfestigkeit zu prüfen. Schließlich die ICI I900 L-EFT: Das ist eine Stromimpulsquelle, bei der die Spitze federmontiert ist, um das direkt kontaktierte Substrat zu prüfen. Die Probe kann für die FBBI- und RBBI-Analyse eines offenen Die verwendet werden. Alle ICI-Probes werden über die mitgelieferte BPS 202-Client-Software oder DLL gesteuert.

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