*NEU* ICI Probes für Pulseinkopplung in IC-Die für Störfestigkeitsuntersuchungen und Seitenkanal-Analysen

06.03.2018

Das ICI L-EFT Set besteht aus einer Vielzahl von ICI-Feldquellen, die elektrische, magnetische Felder oder kontaktierte Stromimpulse in einen offenen Die einkoppeln. Dies ermöglicht eine hochpräzise und hochauflösende IC-Analyse. Des Weiteren können Seitenkanalangriffe simulie

Das ICI L-EFT Set besteht aus einer Vielzahl von ICI-Feldquellen, die elektrische, magnetische Felder oder kontaktierte Stromimpulse in einen offenen Die einkoppeln.
Dies ermöglicht eine hochpräzise und hochauflösende IC-Analyse.
Des Weiteren können Seitenkanalangriffe simuliert werden, um sicherheitskritische Schaltungen zu testen. Zu den Besonderheiten gehört eine sehr hochauflösende 500μm Sondenspitze, die die Prüfung von extrem kleinen Bereichen ermöglicht. Zudem besitzen die Probes einen sehr geringen Trigger-to-pulse Jitter, was eine Störung von sehr spezifischen Punkten im Programmablauf ermöglicht.
Die ICI HH500-15 L-EFT ist eine Magnetfeldquelle die sehr schnelle transiente Impulse mit <2ns Anstiegszeit erzeugt. Die Impulsüberwachung erfolgt über den Messausgang der Magnetquelle.

Die E-Feldquelle ICI E450 L-EFT mit einem Elektrodendurchmesser von nur 450 Mikrometer ermöglicht es einzelne Bereiche im IC selektiv auf elektrische Störfestigkeit zu prüfen.

Die ICI I900 L-EFT ist eine Stromimpulsquelle. Die Spitze ist federmontiert und ermöglicht die Prüfung des direkt kontaktierten Substrates ohne Beschädigung der Probe oder des Substrats. Die ICI I900 kann für die FBBI- und RBBI-Analyse eines offenen Die verwendet werden.

Alle ICI-Probes werden über die mitgelieferte BPS 202-Client-Software oder DLL gesteuert, um Ihren Softwareanforderungen zu genügen.
Klicken Sie hier, um mehr zu erfahren: https://www.langer-emv.com/de/category/ic-seitenkanalanalyse/94