Leitungsgebundene HF-Messung nach IEC 61967-4, 1 Ohm / 150 Ohm

04.10.2016

Das Probe-Set dient zur Messung der leitungsgebundenen Aussendungen (Messung mit direkter 1 Ohm / 150 Ohm-Kopplung) nach IEC 61967-4 an IC-Pins. Für die Strom- und Spannungsmessung steht jeweils eine Probe zur Verfügung. Jedes Pin des Test-ICs kann mit der Probe erreicht.

Das Probe-Set dient zur Messung der leitungsgebundenen Aussendungen (Messung mit direkter 1 Ohm / 150 Ohm-Kopplung) nach IEC 61967-4 an IC-Pins. Für die Strom- und Spannungsmessung steht jeweils eine Probe zur Verfügung. Jedes Pin des Test-ICs kann mit der Probe erreicht und kontaktiert werden.

Die Messungen mit dem Probe Set gewährleisten eine hohe Wiederholpräzision und Vergleichbarkeit der Messungen.

Zur Inbetriebnahme des Test-ICs dient die IC-Testumgebung ICE1 der Langer EMV-Technik. Die Messungen können mit der Software ChipScan-ESA durchgeführt werden. Die in der Software gespeicherten Messergebnisse aller gemessener Pins können schnell und systematisch verglichen werden.

Die P603-1 ist ein 1-Ω-Tastkopf zur direkten Messung des hochfrequenten

(HF-)Stromes an IC-Pins. Sie ist für das Messen an Ground (Vss) und Signalpins vorgesehen. Der HF-Strommesser 1 Ohm besitzt einen Pinkontakt, mit dem jeder IC-Pin einzeln kontaktiert und vermessen werden kann.