Set SX Sonden - Nahfeldsonden - Messen bis 10 GHZ

17.02.2014

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten

Neue EMV-Messtechnik

Oberschwingungen bis 10 GHz - Nahfeldsonden Set SX der Langer EMV-Technik GmbH

Die SX Nahfeldsonden mit dem Frequenzbereich von 1GHz bis 10GHz ermöglichen EMV Analysen der Störaussendung von elektronischen Baugruppen, Bauelementen und IC-Pins mit hohen internen Frequenzen. Die hohe Messauflösung der SX-Sondenköpfe (SX R3-1 erreicht 1mm und die SX E03 misst bis 4x4mm) ermöglicht die Ortung von HF-Quellen auf eng bestückten Boards oder an IC-Pins. Die Magnetfeldsonde besitzt einen elektrisch geschirmten Messkopf. Die Sonden werden zur Messung mit einem geschirmten Kabel und SMA-Steckverbinder an den Eingang eines Spektrumanalysators angeschlossen.

Hohe Taktraten, wie z.B. 2GHz erreichen bei der 5. Oberschwingung bis zu 10GHz. Diese Oberschwingungen werden von HF-Quellen auf der Baugruppe, z.B. Leiterzugabschnitten, ICs und anderen Bauteilen, ausgekoppelt. Andere Konstruktionsteile der Baugruppe können zum Schwingen angeregt werden und zur Störaussendung führen.

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten auf seiner Baugruppe.

Bei der hohen internen Grundfrequenz heutiger Baugruppen ist die Messung von harmonischen Frequenzvielfachen ein Schritt in die sichere EMV.

 

SX-R 3-1

Die Nahfeldsonde dient der Erfassung

von HF-Magnetfeldern mit großer

geometrischer Auflösung. Die Feldorientierung

und -verteilung kann durch

entsprechende Führung der Sonde

im räumlichen Bereich um Leiterzüge,

im Pin- und Gehäusebereich vom IC,

an Blockkondensatoren und EMVBauelementen

im Bereich des Versorgungssystems

erfasst werden.

Frequenzbereich:1 GHz bis 10 GHz

Auflösung ca. < 1 mm

 

 

SX-E 03

Die Nahfeldsonde dient der Analyse

der E-Feldauskopplung, dem

Aufdecken von Koppelmechanismen

auf Baugruppen und der Bewertung

von Schaltflanken auf Signalleitungen.

Sie ermöglicht eine sehr genaue Lokalisation

von E-Feldern, die von getakteten

Leitungen, IC-Pin bzw. kleineren

Bauteilen ausgehen.

Frequenzbereich: 1 GHz bis 10 GHz

Elektrodenfläche: ca. 4 x 4 mm