Entwicklungssystem Störfestigkeit E 1 - Störfestigkeit E1

10.09.2012

Treten bei der Prüfung elektronischer Baugruppen und Geräte mit Burst- bzw. ESD-Impulsen Funktionsfehler auf, muss der Prüfling modifiziert werden. Das Entwicklungssystem E1 dient der schnellen und exakten Bestimmung der Ursachen der Funktionsfehler innerhalb des Prüflings. Der Anwender erkennt, welcher Leiterzug bzw. welches Bauelement auf welche Weise beeinflusst wird. Dadurch kann er die jeweils optimale Abhilfemaßnahme direkt in die Schaltung und in das Layout einbringen. Der Burstgenerator SGZ21 erzeugt die notwendigen Prüfimpulse, die galvanisch oder über magnetische oder elektrische Feldquellen in den Prüfling eingekoppelt werden. Während der Prüfungen können mittels Sensor Signale überwacht und mittels Magnetfeldsonde Störströme innerhalb des Prüflings gemessen werden.

Entwicklungssystem Störfestigkeit E1

Lieferumfang:

 

    * Impulsdichtegenerator SGZ 21
    * EMV-Sensor S31 mit LWL
    * Magnetfeldsonde MS 02
    * Magnetfelquelle BS 02
    * Magnetfelquelle BS 04 DB
    * Magnetfelquelle BS 05 D
    * Magnetfelquelle BS 05 DU
    * E-Feldquelle ES 00
    * E-Feldquelle ES 01
    * E-Feldquelle ES 02
    * E-Feldquelle ES 05 D
    * E-Feldquelle ES 08 D
    * Zubehör
    * Bedienungsanleitung
    * Koffer mit Schaumstoffeinlage



URL: http://www.langer-emv.de/produkte/stoerfestigkeit/messplatz/entwicklungssystem-e1/