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06.03.2018

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*NEU* ICI Probes für Pulseinkopplung in IC-Die für Störfestigkeitsuntersuchungen und Seitenkanal-Analysen

Das ICI L-EFT Set besteht aus einer Vielzahl von ICI-Feldquellen, die elektrische, magnetische Felder oder kontaktierte Stromimpulse in einen offenen Die einkoppeln. Dies ermöglicht eine hochpräzise und hochauflösende IC-Analyse. Des Weiteren können Seitenkanalangriffe simulie

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12.12.2016

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Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors

Entstörung eines mit PWM (Pulsweitenmodulation) betriebenen Gleichstrommotors Störaussendungsmessungen mit Netznachbildung NNB 21 oder HF-Stromwandler HFW 21 und der Software für Spektrumanalysatoren ChipScan-ESA der Langer EMV-Technik Der Prüfling besteht aus einer Leiterkart

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27.10.2016

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EMV Störaussendungsmessungen von Nahfeldern bis 6 GHz

Das Set XF1 enthält vier passive Magnetfeldsonden und eine passive E-Feldsonde zur entwicklungsbegleitenden Messung von magnetischem und elektrischem Feld im Bereich von 30 MHz bis 6 GHz. Aufgrund der eingebauten Impedanzanpassung sind die Sonden im unteren Frequenzbereich une

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04.10.2016

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Leitungsgebundene HF-Messung nach IEC 61967-4, 1 Ohm / 150 Ohm

Das Probe-Set dient zur Messung der leitungsgebundenen Aussendungen (Messung mit direkter 1 Ohm / 150 Ohm-Kopplung) nach IEC 61967-4 an IC-Pins. Für die Strom- und Spannungsmessung steht jeweils eine Probe zur Verfügung. Jedes Pin des Test-ICs kann mit der Probe erreicht.

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08.03.2016

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**NEU** Vorverstärker 100 kHz bis 6 GHz, PA 306 set

Produktneuheit: Der PA 306 dient zur Verstärkung von schwachen Messsignalen z.B. Nahfeldsonden oder Antennen. Er zeichnet sich durch geringes Rauschverhalten und einen hohen Dynamikumfang über einen breiten Frequenzbereich aus. Der PA 306 wird an den 50 Ω-Eingang eines Spektru

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01.03.2016

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Optobox 100 für LIN und CAN Bussysteme

Das OB 100 set dient zur optischen Übertragung von wahlweise CAN- oder LIN-Signalen. Während einer EMV-Prüfung kann mit diesem der CAN- / LIN-Bus galvanisch getrennt überwacht werden.

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20.03.2015

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Magnetfeldquelle zur Erzeugung von EFT/Burst-Magnetfeld hoher Stärke auf kleinstem Raum

Die Magnetfeldquelle BS 06DB-s dient der Erzeugung von EFT/Burst Magnetfeld. Die Feldquelle wird über ein HV-Kabel von einem EFT/Burstgenerator (IEC 61000-4-4) mit EFT/Burst Strom gespeist. Sie erzeugt auf kleinstem Raum (2,54 mm²) hohe magnetische Felder (ca. 200mT).

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17.02.2014

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ESD Generator P331-2 Burstpuls gemäß IEC 61000-4-2

Mit der P331-2 der Langer EMV-Technik GmbH gibt es nun ein Messgerät zur zuverlässigen und reproduzierbaren Messung der Störfestigkeit von IC´s. Diese Messtechnik kann sowohl entwicklungsbegleitend als auch zur Qualitätsprüfung der IC´s eingesetzt werden.

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17.02.2014

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ESA 1 und Chipscan - entwicklungsbegleitendes Messen am Arbeitsplatz des Entwicklers

ESA 1 und ChipSan-ESA vergleichende Messungen der Störaussendung von Baugruppen auf kleinstem Raum und ohne großen Aufwand; Software ChipScan-ESA für Spektrumanalysatoren

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17.02.2014

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Set SX Sonden - Nahfeldsonden - Messen bis 10 GHZ

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten

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15.03.2013

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IC Scanner Typ ICS 105

Der IC Scanner Typ ICS 105 mit seinem Verfahrweg 50 x 50 x 50mm und seiner Schrittweite von 10µm ist entwickelt worden, um über ein offenen DIE kontaktlos messen zu können. Mittels einer ICR Nahfeldsonde ist eine HF-Feldmessungen bis 6GHz und einer Auflösung bis 50µm über den ...

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15.03.2013

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Analoger LWL - Tastkopf Typ A200

Das System Typ A200 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszilloskop gesan...

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15.03.2013

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Analoger LWL - Tastkopf Typ A100

Das System Typ A100 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

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10.09.2012

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Mikro Nahfeldsonde MFA-K 0,1-12 - MFA 01

MFA 01 Lieferumfang: Magnetfeldsonden mit integrierter Verstärkerstufe: MFA-R 0,2-6; MFA-K 0,1-12; MFA-R 0,2-75 Bias-Tee BT 706 Sondenkabel, Steckernetzteil, Sondenkoffer mit Anleitung

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10.09.2012

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Entwicklungssystem Störfestigkeit E 1 - Störfestigkeit E1

Treten bei der Prüfung elektronischer Baugruppen und Geräte mit Burst- bzw. ESD-Impulsen Funktionsfehler auf, muss der Prüfling modifiziert werden. Das Entwicklungssystem E1 dient der schnellen und exakten Bestimmung der Ursachen der Funktionsfehler innerhalb des ...

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