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02.03.2010

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MFA 01 von 1 MHz bis 6 GHz

Die neue Generation der handgeführten aktiven Mikro H-Nahfeldsonden MFA 01 von Langer bieten ein Messbereich von 1 MHz bis 6 GHz bei einer Messauflösung von 300 µm an. Der Elektronikentwickler

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22.01.2010

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Beurteilung der Pulsstörfestigkeit bei integrierten Schaltkreisen

Für die EMV-Eigenschaften von Geräten spielen neben der Layout- und Gehäusegestaltung die Eigenschaften der eingesetzten ICs eine entscheidende Rolle. Die Störfestigkeit wird in Zukunft einen immer höheren Stellenwert erreichen. Deshalb ist es für die Hersteller und den Anwender ...

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09.11.2009

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ICR HH 100 mit maximaler Messauflösung von 50 Mikrometer

Die Nahfeldmikrosonde ICR HH 100 von Langer EMV-Technik hat eine vertikale Spule mit einen Innendurchmesser von 100 µm. Damit wird eine maximale Messauflösung von 50 µm erreicht.

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09.04.2009

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NNB 21 für Entwicklungssystem ESA 1

Die Netznachbildung NNB 21 von Langer EMV ist für die Messung leitungsgebundener Störaussendung in Bordnetzen (LIN-Bus) und allgemeine Anwendungen mit einem maximalen Strom von 10

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04.02.2009

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So ermitteln Sie die Störfestigkeit von LIN-ICs

Wird der Strom- und Spannungsverlauf eines ICs beim HF-Einstrahltest exakt ausgewertet, lassen sich die Ursachen möglicher IC-Fehlfunktionen sicher bestimmen. Am Beispiel eines LIN-ICs zeigen wir Ihnen, wie Sie die HF-Störfestigkeit ermitteln und EMV-Störgrößen minimieren.

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26.08.2008

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EME-Koppelmechanismen im Fern- und Nahfeld nachbilden

Das Störaussendungsmodell VM 251 von Langer EMV testet die Auswirkungen von EMV-Maßnahmen. Es lassen sich verschiedene EME-Koppelmechanismen in der Elektronik und ihre Abhängigkeiten

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16.06.2008

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Einstrahlfestigkeit von OPV-Schaltungen bis 3 GHz absichern

Operationsverstärker (OPV) sind im Einsatz elektromagnetischen Störungen ausgesetzt. Deshalb ist es in der Praxis wichtig, ihre Grenzparameter genau zu bestimmen, um spätere EMV-Effekte auszuschließen. Langer EMV hat ein Verfahren entwickelt, das eine OPV-Schaltung als invertiere...

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14.01.2008

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Modulares System für IC-Oberflächen

Der EMV Scanner FLS 102 von Langer ist ein modular aufgebautes IC-Test-System zum automatischen Messen elektrischer und magnetischer Nahfelder über IC-Oberflächen, PINs und IC-Baugruppen.

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16.01.2007

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Feldmessungen an IC und Flachbaugruppen

Anwendungsgebiet der Nahfeldmikrosonden von Langer EMV sind Messungen magnetischer oder elektrischer Nahfelder mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit. Die Sonden sind für Feldmessungen

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09.06.2010

Nachrichten

6 GHz Nahfeldsonden Set XF 1

6 GHz Sonden XF 1 Das Set XF1 enthält 4 H-Feldsonden und eine E-Feldsonde. Alle Sonden dienen der Analyse der Magnet- oder E-Feldverteilung, dem Aufdecken von Koppelmechanismen auf der Baugruppe und der Bewertung von HF-Strömen oder Spannung von 30 MHz bis 6 GHz . Die passiven Fe...

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