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30.11.2012

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Welche Störwirkung eine ESD-Pistole auf die Elektronik hat

Die ESD-Pistole beeinflusst über extrem schnelle parasitäre Felder die Elektronik. Wir betrachten im ersten Teil unserer dreiteiligen Serie die verschiedenen Störwirkungen und wie sie sich vermeiden lassen.

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30.04.2012

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Oszilloskop ist vor Störungen geschützt

Die HF-Schirmbox für das Entwicklungssystem Störaussendung Typ ESA1 von Langer EMV hat eine interne gefilterte Spannungsversorgung von 110 bis 230 V. Damit ist ...

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13.04.2012

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Surface- oder PIN-Scan mit dem IC-Scanner

Die HF-Analyse eines in der elektronischen Baugruppe eingebauten integrierten Schaltkreises oder ASICs ist durch die geringen Abstände der PINs und Signalleitun...

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15.02.2012

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Punktgenaue Puls-Störfestigkeits-Analyse ermittelt sehr empfindliche Schaltungsteile

Sollen lokale Störgrößen entkoppelt werden, werden E- oder B-Feldquellen eingesetzt. Ihre Selektivität ist allerdings nicht ausreichend. Mit einem speziellen Störgenerator lassen sich steilflankige Störimpulse in einem Prüfling einkoppeln.

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17.08.2011

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Test von hochohmigen digitalen IC-Eingängen

Langer EMV präsentiert den Mini E-Pulsgenerator vom Typ P23. Die Störimpulsspannung des Generators wird kapazitiv in die zu testende hochohmigen digitalen IC-Ei...

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06.06.2011

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E-Feldsonden bis 6 GHz

Im Spannungsmaximum einer Antennenstruktur reichen geringe elektrische Felder, um einen EMV-Effekt hervorzurufen. Die E-Nahfeldsonden mit Mantelstromdämpfung vo...

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07.03.2011

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Wie Steckverbinder EMV-konform dimensioniert werden können

Welche EMV-Eigenschaften müssen vorliegen, um Störbeeinflussungen wie Burst oder ESD-Störungen bei Steckverbindern zu widerstehen?

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06.10.2010

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Koppelimpedanz-Messplatz für Stecker und Steckverbinder

Mit der Koppelinduktivität lassen sich die EMV-Eigenschaften von Stecker- und Steckverbinder umfassend beurteilen.

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09.06.2010

Nachrichten

Mikro Magnetfeld Sonde bis 6 GHz

Aktive Magnetfeldsonde MFA-R 0,2-6 Die MFA-R 0,2-6 ist für Messungen von Magnetfeldern von 100 MHz bis 6 GHz einsetzbar. Durch die hohe Messauflösung von 300 µm kann die Sonde an kleinsten SMD - Bauelementen (0603-0201), über feine Leiterzüge und IC-Pins das Magnetfeld analysiere...

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