Langer EMV-Technik GmbH - der Blickfang auf der emv Düsseldorf 2016

10.03.2016

EMV-Fachmesse emv 2016 Düsseldorf - zahlreiche Demonstrationsplätze - optische Übertragungssysteme zur Signalüberwachung aus dem Prüfling unter Störeinfluss Burst und EFT.

Auf der EMV-Fachmesse emv 2016 Düsseldorf präsentiert die Langer EMV-Technik GmbH ihre Produktpalette. Besonders interessant für Besucher sind die zahlreichen Demonstrationsplätze, an denen EMV-Pänomene der Störaussendung und Störfestigkeit live veranschaulicht werden bzw. Messungen nachvollziehbar werden.

Das A100-1 Set http://www.langer-emv.de/de/category/analog/53 dient zum Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss. Besonders eignet sich das Messsystem zur Untersuchung von analogen Signalen während der Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) gegen hochfrequente elektromagnetische Felder (IEC 61000-4-3 bis IEC 61000-4-6). Geeignet ist das System für die Signalüberwachung aus einer Absorberkammer oder in einem EMV-Raum.
Im Set befindet sich ein Sensor der im Prüfling ein Analogsignal misst und in Lichtsignale umwandelt. Die Lichtsignale werden über Lichtwellenleiter an den optischen Empfänger übertragen der diese in analoge elektrische Signale wandelt. Diese können mit einem Oszilloskop dargestellt oder zur Steuerung weiterer Geräte verwendet werden. Für die Erfassung der Signale im Prüfling stehen mehrere Sensortypen AS100, AS110 und AS120 mit unterschiedlichen Messbereichen zur Verfügung.

 

Für die Übertragung digitaler Signale stehen die OSE sets zur Verfügung http://www.langer-emv.de/de/category/digital/52.

 

Z.B. dient das OSE 150-1 Set zur Übertragung von digitalen Signalen aus einem gestörten Prüfling (EFT/Burst-Störeinfluss). Das Set enthält einen Sensor, der die Logiksignale erfasst und in Lichtsignale wandelt. Die Lichtsignale werden über Lichtwellenleiter zu dem optischen Empfänger übertragen, der diese in digitale elektrische Signale wandelt. Diese können mit einem Oszilloskop dargestellt oder zur Steuerung weiterer Geräte verwendet werden.
Für die Erfassung der Logiksignale im Prüfling stehen mehrere Sensortypen mit unterschiedlichen Messbereichen zur Verfügung. Bei der Bestellung kann zwischen dem Sensor S21, S25, S31 und S32 ausgewählt werden. Geeignet ist das System für die Signalüberwachung aus einem Absorberraum, einer geschirmten HF-Kammer oder in einem EMV Testlabor. Mit dem optischen Übertragungssystem können EMV-Optimierungen von Hard- und Software durchgeführt werden, da gestörte Signale schnell erkannt werden.