Automatisierung von EMV IC-Tests

20.03.2015

Langer EMV-Technik GmbH präsentiert ihre Produkte und besonders die Weltneuheit IC-Tester ICT1 auf der EMC&SI IEEE Symposium Santa Clara, Californien, USA vom 17.-20.03.2015. Automatisierung von EMV IC-Tests Der IC-Testautomat ICT1 ist ein Positioniersystem für Messysteme, um ...

Langer EMV-Technik GmbH präsentiert ihre Produkte und besonders die Weltneuheit IC-Tester ICT1 auf der EMC&SI IEEE Symposium Santa Clara, Californien, USA vom 17.-20.03.2015.

Automatisierung von EMV IC-Tests

Der IC-Testautomat ICT1 ist ein Positioniersystem für Messysteme, um automatisierte EMV-Tests an ICs durchzuführen (Bild 1). Mit dem ICT1 können Störfestigkeits- und Störaussendungsuntersuchungen einzelner IC Pins und kompletter ICs automatisiert durchgeführt werden. Besonderheiten des ICT1 sind die automatische Pinerkennung und die hochgenaue Positionierung (10µm) der Messsysteme am Test-IC. Durch die automatischen Messungen werden Zeit und Kosten gespart.

Der ICT1 ist so aufgebaut, dass man mit den Messspitzen der einzelnen Probes die IC-Pins direkt kontaktieren kann. Angeschlossen werden die Probes an die benötigten Mess- und Steuergeräte (Spektrumanalysator, Oszilloskop, HF Leistungsverstärker etc.). Die Steuerung der Geräte erfolgt über eine Schnittstelle zum PC. Der Test-IC wird in Funktion getestet. Dafür befindet sich der Test-IC auf einer Testleiterkarte. Diese ist mit dem Connection Board verbunden. Das Connection Board ist die Schnittstelle zwischen Test IC und PC. Es stellt die notwendigen Versorgungssignale für den Test-IC bereit und leitet die zu überwachenden Signale an die entsprechenden Messeinrichtungen weiter. Connection Board und Test-IC befinden sich in der Groundplane. Somit ist eine optimale Messumgebung geschaffen.

Die für die jeweilige Messaufgabe notwendige Probe wird an den ICT1 angeschlossen. Durch eine speziell konstruierte Halterung sind die Probes schnell und ohne zusätzliches Werkzeug  wechselbar.