Neue EMV-Messtechnik Oberschwingungen bis 10 GHz - Nahfeldsonden Set SX der Langer EMV-Technik GmbH

17.02.2014

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten.

Die SX Nahfeldsonden mit dem Frequenzbereich von 1GHz bis 10GHz ermöglichen EMV Analysen der Störaussendung von elektronischen Baugruppen, Bauelementen und IC-Pins mit hohen internen Frequenzen. Die hohe Messauflösung der SX-Sondenköpfe (SX R3-1 erreicht 1mm und die SX E03 misst bis 4x4mm) ermöglicht die Ortung von HF-Quellen auf eng bestückten Boards oder an IC-Pins. Die Magnetfeldsonde besitzt einen elektrisch geschirmten Messkopf. Die Sonden werden zur Messung mit einem geschirmten Kabel und SMA-Steckverbinder an den Eingang eines Spektrumanalysators angeschlossen.

Hohe Taktraten, wie z.B. 2GHz erreichen bei der 5. Oberschwingung bis zu 10GHz. Diese Oberschwingungen werden von HF-Quellen auf der Baugruppe, z.B. Leiterzugabschnitten, ICs und anderen Bauteilen, ausgekoppelt. Andere Konstruktionsteile der Baugruppe können zum Schwingen angeregt werden und zur Störaussendung führen.

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten auf seiner Baugruppe.

Bei der hohen internen Grundfrequenz heutiger Baugruppen ist die Messung von harmonischen Frequenzvielfachen ein Schritt in die sichere EMV.

 

Die neuen SX-Nahfeldsonden werden am Stand der Langer EMV-Technik GmbH CCD 311 der Internationalen Fachmesse emv in Düsseldorf vom 11.-13. März 2014 der Öffentlichkeit vorgestellt. Wir freuen uns auf Ihren Besuch!