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15.05.2018

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Messprobes für IC-Tests: Störfestigkeit auf dem Die untersuchen

Drei verschiedene Messprobes bietet Langer EMV für die Pulseinkopplung in IC-Dies. Damit lassen sich IC auf Störfestigkeit hin untersuchen oder eine Seitenkanal-Analyse.

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30.10.2017

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Was der EMV-Parameter von Steckverbindern bringt

Durch Messen der Koppelinduktivität können die Auswirkungen der Steckverbinder auf die angeschlossenen Signale im System vorab bestimmt werden. Im Beitrag lesen Sie, wie das funktioniert.

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30.06.2017

Nachrichten

Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren

Die Entwicklung von elektronischen Baugruppen ist heutzutage geprägt von starker Kostenminimierung und damit einhergehendem Zeitdruck für den Entwicklungsingenieur. Im Verlauf der Entwicklung eines Produktes sind meist Messungen mit einem Spektrumanalysator notwendig.

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15.05.2017

Nachrichten

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03.03.2017

Nachrichten

EMV-Störquellen mit Nahfeldsonden identifizieren

Ein wichtiger Aspekt bei der Entwicklung von Geräten und Leiterplatten ist die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV). Die grundlegenden Anforderungen an die EMV von Betriebsmitteln (Geräten und ortsfesten Anlagen) sind im EMVG („Elektromagnetische-Verträglichkeit-Gesetz“) defi

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05.12.2016

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MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung

LVDS-Treiber (und LVDS-Empfänger) können Quellen für eine erhebliche Störaussendung sein. Über eine mangelhafte Schirmung der Kabel und Steckverbinder können die Störungen, die durch die LVDS-Treiber verursacht wurden, nach außen dringen und zur Störaussendung führen. Meist si

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16.11.2016

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Vom Gerätetest zu einem IC-Testsystem, Teil 2/2

Die EMV-Anforderungen einzuhalten ist eine anspruchsvolle Aufgabe für den Entwickler. Im zweiten Teil gehen wir auf die Strukturbreite ein und wie sich die Störfestigkeit beherrschen lässt.

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04.10.2016

Artikel

Vom Gerätetest zu einem IC-Testsystem, Teil 1

Die EMV-Anforderungen einzuhalten ist eine anspruchsvolle Aufgabe für den Entwickler. Im ersten Teil unserer Serie zeigen wir, wie die Störfestigkeit auf dem Niveau eines ICs untersucht wird.

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20.09.2016

Nachrichten

Schnelle transiente Pulse über magnetisches Feld in ICs einkoppeln

ICI HH500-15 L-EFT ist eine Magnetfeldquelle, die über dem Test-IC (open Die) angeordnet wird. Sie erzeugt schnelle transiente Pulse (< 2ns Anstiegszeit). Die Überwachung der Pulse erfolgt über den Messausgang der Magnetfeldquelle.

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21.04.2016

Nachrichten

Noch 7 Tage..... Registrieren Sie sich zum Webinar: Electromagnetic Emissions: Measurement Without an Anechoic Chamber

Register NOW ! For our free Webinar! Thursday, April 28, 2016 | 10:00 am - 10:45 am EDT

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12.04.2016

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Webinar zur Störaussendung - Messung ohne Absorberhalle - ITEM

Imagine, your production-ready electronic device has just failed an EMC radiated emissions test. Wouldn’t it have been better to discover and solve this problem much earlier, during the initial design cycle?

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29.03.2016

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Langer EMV-Technik GmbH auf der 14. EMV Fachtagung 12. - 13.4.2016, Seibersdorf

2016 findet die 14. EMV-Fachtagung in Seibersdorf, Österreich statt. Die Langer EMV-Technik GmbH wird dort sowohl mit einem Stand (Nr. 8), zahlreichen Produkten zur Ansicht und als Demonstrationsplatz als auch mit einem halbstündigen Fachvortrag präsent sein.

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15.03.2016

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EMV Praxistipp für Messungen bis 6 GHz - Störaussendung; LVDS-Verbindungen

LVDS-Übertragunssysteme sind in der Praxis häufig die Ursache für Störaussendungsprobleme. Die Probleme entstehen häufig in Verbindung mit Steckverbindern und Kabeln. In der Praxis wird angenommen, dass das symmetrische LVDS-Signal (Gegentaktsignal) keine Störaussendung bewirkt.

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10.03.2016

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LF - Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik GmbH Nutzung in der Forschung

ECDSA-Schlüssel lassen sich über elektromagnetische Strahlung und Geräusche aus der Ferne ausspionieren. So kann ein Angreifer ohne direkten Zugriff auf Smartphone oder PC etwa ApplePay-Konten oder Bitcoin-Wallets kompromittieren.

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10.03.2016

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Langer EMV-Technik GmbH - der Blickfang auf der emv Düsseldorf 2016

EMV-Fachmesse emv 2016 Düsseldorf - zahlreiche Demonstrationsplätze - optische Übertragungssysteme zur Signalüberwachung aus dem Prüfling unter Störeinfluss Burst und EFT.

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24.02.2016

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Langer EMV-Technik GmbH auf der Düsseldorf EMV 2016

Die Fachmesse in Düsseldorf bietet für das auf ingenieurtechnische Dienstleistungen mit dem Schwerpunkt EMV spezialisierte Unternehmen Langer EMV-Technik GmbH die perfekte Plattform, um ein qualifiziertes Fachpublikum von ihrem Angebot zu überzeugen.

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25.01.2016

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2016 - Seminartermine EMV Teil 2 - Störaussendung - Experimentalseminare

Im Teil 2 werden das Verständnis der EMV-Wirkzusammenhänge und deren Auswirkung auf die Störaussendung vertieft. Es werden typische EMV-Messaufbauten zur Ermittlung der Störaussendungsursachen nachgestellt und daran entwicklungsbegleitende Messungen durchgeführt.

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21.01.2016

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2016 - Seminartermine EMV Teil 2 - Störfestigkeit- Experimentalseminare

Im EMV-Experimentalseminar Teil 2 wird das Verständnis der EMV vertieft. Besondere EMV-Problemfälle wie die Signalbeeinflussung an Schnittstellen oder die Beeinflussung durch ESD werden im Zusammenhang erklärt. Im Seminar entstören Sie an Ihrem eigenen Experimentierplatz.

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18.01.2016

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2016 - Seminartermine EMV Grundlagenseminare Störfestigkeit - Störaussendung - Experimentalseminare

Die Experimentalseminare werden von in EMV-Entstörung und EMV-Beratung sehr erfahrenen Ingenieuren durchgeführt. Die Teilnehmer experimentieren an eigenen Arbeitsplätzen und lernen die Wirkmechanismen der EMV auf Baugruppen zu verstehen.

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21.12.2015

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Qualitätsmerkmale der Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik GmbH

Um Nahfeldsonden richtig bewerten zu können, sollten zwei Merkmale überprüft werden: 1. Konstante Empfindlichkeit über einen weiten Frequenzbereich 2. Hohe Unterdrückung von elektrischen Feldern (Magnetfeldsonden)

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14.12.2015

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Mit Nahfeldsonden eine LVDS-Verbindung entstören

Die Treiber und Empfänger der Hochgeschwindigkeits-Schnittstelle LVDS können Störungen aussenden. Mit einer Nahfeldsonde kann der Testingenieur die Schnittstellen untersuchen und Gegenmaßnahmen einleiten.

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07.12.2015

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Workshop zur EMV von Integrierten Schaltkreisen (ICs)

Im Workshop werden Koppelmechanismen betrachtet, die bei der Anwendung von ICs zu EMV-Problemen in der Baugruppe führen können. Sie lernen Prüfgrößen und Prüfgeräte zur definierten Nachbildung von Störungen an einem IC kennen. aktuelle Norm-Messverfahren und spezielle EMV-Analyse

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27.11.2015

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EMV-Experimentalseminare des Ingenieurbüros Gunter Langer und Workshops der Langer EMV-Technik GmbH

2016 Termine EMV-Experimentalseminareund EMV-Workshops zur Anmeldung stehen online zur Verfügung. Die EMV-Veranstaltungen der Langer EMV-Technik GmbH erfahren seit Jahren hohen Zuspruch von Entwicklungsingenieuren, EMV-Ingenieuren, Konstrukteuren und Entflechtern ...

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20.03.2015

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Automatisierung von EMV IC-Tests

Langer EMV-Technik GmbH präsentiert ihre Produkte und besonders die Weltneuheit IC-Tester ICT1 auf der EMC&SI IEEE Symposium Santa Clara, Californien, USA vom 17.-20.03.2015. Automatisierung von EMV IC-Tests Der IC-Testautomat ICT1 ist ein Positioniersystem für Messysteme, um ...

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03.03.2015

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EFT/Burst-Magnetfeld hoher Stärke auf kleinstem Raum

Die Magnetfeldquelle BS 06DB-s dient der Erzeugung eines EFT/Burst-Magnetfelds. Die Feldquelle wird über ein HV-Kabel von einem EFT/Burstgenerator (IEC 61000-4-4) mit EFT/Burst Strom gespeist.

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21.01.2015

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Wie eine Automobilbaugruppe erfolgreich entstört wird

Trotz komplexerer EMV-Probleme sind nicht immer komplizierte EMV-Werkzeuge notwendig. Hier erfahren Sie, wie sich eine Automobilbaugruppe überschaubar untersuchen lässt.

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06.06.2014

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Ursachen von Störfestigkeitsproblemen finden und beseitigen

Das Entwicklungssystem Störfestigkeit (E1) von Langer EMV ist ein Werkzeug für Elektronikentwickler mit dem Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ESD) von Baugruppen durchgeführt werden können.

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05.06.2014

Nachrichten

EMV-Tip: Steckverbinder – Grund für EMV-Probleme – Burst-Test am Bus-Interface System

Besonders in der Automobilindustrie (automotive), Automatisierungstechnik bis heutzutage nahezu in jeder Elektronikentwicklung sind die Anforderungen an die EMV rasant gestiegen. Besonders die Übertragung von empfindlichen Datensignalen soll ohne Fehler erfolgen.

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16.04.2014

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Störungen in Baugruppen besser vermeiden

Mikroprozessoren und Mikrocontroller sollen universell in verschiedene Applikationen eingebaut werden. Allerdings treten bei hoher Inte-gration Störfelder auf. Wir zeigen mögliche Fehlerquellen.

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13.03.2014

Nachrichten

EMV-Experimentalseminare Störfestigkeit *eigener Experimentierplatz *max Teilnehmerzahl 12 Personen

Beim selbständigen Ausprobieren am eigenen Experimentierplatz nimmt der Teilnehmer moderne EMV-Messtechnik selbst in die Hand und vollzieht die Entstörstrategien sofort nach. Das Experimentalseminar Störfestigkeit ist in zwei Teilen organisiert

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13.03.2014

Nachrichten

EMV-Experimentalseminare Störaussendung *eigener Experimentierplatz *max Teilnehmerzahl 12 Personen

Beim selbständigen Ausprobieren am eigenen Experimentierplatz nimmt der Teilnehmer moderne EMV-Messtechnik selbst in die Hand und vollzieht die Entstörstrategien sofort nach. Das Experimentalseminar Störaussendung ist in zwei Teilen organisiert

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10.03.2014

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Wie sich die EMV eines Prototypen dimensionieren lässt

An kritischen Bauteilen eines Prototypen sollten unbedingt die EMV-Anforderungen ermittelt werden. Bei großen Projekten ist es ratsam, den Hersteller mit ins Boot zu holen.

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17.02.2014

Nachrichten

EMV-Seminare der Langer EMV-Technik GmbH wechselt Träger

In den Experimentalseminaren zur Störaussendung und Störfesigkeit auf Baugruppen sowie speziellen IC-Workshops werden Kenntnisse über die tatsächlichen EMV-Wirkzusammenhänge und Fähigkeiten für das entwicklungsbegleitende Lösen von EMV-Problemen vermittelt.

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17.02.2014

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Neue EMV-Messtechnik Oberschwingungen bis 10 GHz - Nahfeldsonden Set SX der Langer EMV-Technik GmbH

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten.

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14.02.2014

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Wenn der Prüfling den EMV-Test nicht besteht

Normgerechte Messaufbauten lassen wenig Spielraum, tiefgründig Fehler zu analysieren. Am Beispiel der Störfestigkeitsmessung stellen wir verschiedene Messvarianten vor.

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11.09.2013

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Die EMV an einem IC betrachtet – zwei Messmethoden im Vergleich

Um die EMV-Eigenschaften eines ICs zu bewerten, lassen sich zwei Messmethoden verwenden: die TEM-Zelle und die IC-Streifenleitung. Wir stellen beide Verfahren gegenüber.

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15.03.2013

Nachrichten

Analoger LWL - Taspkopf Typ A300

Das System Typ A300 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

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15.03.2013

Nachrichten

Analoger LWL - Tastkopf Typ A200

Das System Typ A200 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

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20.02.2013

Artikel

Die Störwirkung zwei verschiedener ESD-Pistolen und ihre elektrischen Felder

Bei einer ESD-Pistole treten elektrische Felder aus dem Pistolen-gehäuse aus und beeinflussen die Elektronik. Im dritten und letzten Teil untersuchen wir die elektrischen Felder von zwei verschiedenen ESD-Pistolen.

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13.12.2012

Artikel

Wie eine ESD-Pistole ein elektronisches System beeinflusst

Extrem schnelle Magnetfelder aus einer ESD-Pistole beeinflussen das zu untersuchende Elektroniksystem. In unserem Beitrag vergleichen wir zwei Pistolentypen und ihr entsprechendes Magnetfeld.

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