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15.03.2013

Nachrichten

Analoger LWL - Tastkopf Typ A200

Das System Typ A200 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

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15.03.2013

Produkte

IC Scanner Typ ICS 105

Der IC Scanner Typ ICS 105 mit seinem Verfahrweg 50 x 50 x 50mm und seiner Schrittweite von 10µm ist entwickelt worden, um über ein offenen DIE kontaktlos messen zu können. Mittels einer ICR Nahfeldsonde ist eine HF-Feldmessungen bis 6GHz und einer Auflösung bis 50µm über den ...

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15.03.2013

Produkte

Analoger LWL - Tastkopf Typ A200

Das System Typ A200 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszilloskop gesan...

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15.03.2013

Produkte

Analoger LWL - Tastkopf Typ A100

Das System Typ A100 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

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15.03.2013

Veranstaltungen

EMV-Experimental-Seminarwoche

02.07.2013 - 05.07.2013

Veranstaltungsort: Langer EMV-Technik, Rosentitzer Str. 73, D-01728 Bannewitz

Sie führen am Seminarplatz Experimente zu EMV-Phänomänen in der Elektronik der Störfestigkeit und der Störaussendung unter Anleitung eines Ingenieurs unserer Firma durch. Ziele sind: Fähigkeiten entwicklungsbegleitende Messergebnisse bewerten zu können, EMV-Phänomäne in der El...

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20.02.2013

Artikel

Die Störwirkung zwei verschiedener ESD-Pistolen und ihre elektrischen Felder

Bei einer ESD-Pistole treten elektrische Felder aus dem Pistolen-gehäuse aus und beeinflussen die Elektronik. Im dritten und letzten Teil untersuchen wir die elektrischen Felder von zwei verschiedenen ESD-Pistolen.

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13.12.2012

Artikel

Wie eine ESD-Pistole ein elektronisches System beeinflusst

Extrem schnelle Magnetfelder aus einer ESD-Pistole beeinflussen das zu untersuchende Elektroniksystem. In unserem Beitrag vergleichen wir zwei Pistolentypen und ihr entsprechendes Magnetfeld.

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30.11.2012

Artikel

Welche Störwirkung eine ESD-Pistole auf die Elektronik hat

Die ESD-Pistole beeinflusst über extrem schnelle parasitäre Felder die Elektronik. Wir betrachten im ersten Teil unserer dreiteiligen Serie die verschiedenen Störwirkungen und wie sie sich vermeiden lassen.

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10.09.2012

Produkte

Mikro Nahfeldsonde MFA-K 0,1-12 - MFA 01

MFA 01 Lieferumfang: Magnetfeldsonden mit integrierter Verstärkerstufe: MFA-R 0,2-6; MFA-K 0,1-12; MFA-R 0,2-75 Bias-Tee BT 706 Sondenkabel, Steckernetzteil, Sondenkoffer mit Anleitung

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10.09.2012

Produkte

Entwicklungssystem Störfestigkeit E 1 - Störfestigkeit E1

Treten bei der Prüfung elektronischer Baugruppen und Geräte mit Burst- bzw. ESD-Impulsen Funktionsfehler auf, muss der Prüfling modifiziert werden. Das Entwicklungssystem E1 dient der schnellen und exakten Bestimmung der Ursachen der Funktionsfehler innerhalb des ...

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