Logo
17.02.2014

Produkte

ESA 1 und Chipscan - entwicklungsbegleitendes Messen am Arbeitsplatz des Entwicklers

ESA 1 und ChipSan-ESA vergleichende Messungen der Störaussendung von Baugruppen auf kleinstem Raum und ohne großen Aufwand; Software ChipScan-ESA für Spektrumanalysatoren

lesen
Logo
17.02.2014

Produkte

Set SX Sonden - Nahfeldsonden - Messen bis 10 GHZ

Mit den SX-Nahfeldsonden kann der Entwickler HF-Quellen mit Schwingungen bis 10GHz auf seiner Baugruppe ausfindig machen und entsprechende Gegenmaßnahmen vorsehen. Die praktische kleine Stiftform der Langer EMV-Nahfeldsonden ermöglicht dem Entwickler ein komfortables Arbeiten

lesen
Logo
14.02.2014

Artikel

Wenn der Prüfling den EMV-Test nicht besteht

Normgerechte Messaufbauten lassen wenig Spielraum, tiefgründig Fehler zu analysieren. Am Beispiel der Störfestigkeitsmessung stellen wir verschiedene Messvarianten vor.

lesen
Logo
03.12.2013

Veranstaltungen

Experimental-EMV-Seminar Teil 1 Störfestigkeit

13.05.2014 um 08:00 Uhr - 14.05.2014 um 17:00 Uhr

Veranstaltungsort: LANGER EMV-Technik GmbH Rosentitzer Str. 73 01728 Bannewitz in Sachsen

Ausgehend von den Grundlagen der EMV-Technik vermitteln wir Kenntnisse über die tatsächlichen EMV-Wirkzusammenhänge auf Baugruppen. Alle theoretischen Aussagen werden sofort experimentell geprüft. Einer unserer erfahrenen Entwicklungsingenieure führt durch das Experimentalseminar

lesen
Logo
03.12.2013

Veranstaltungen

Experimental-EMV-Seminar Teil 1 Störaussendung

03.04.2014 um 08:00 Uhr - 04.04.2014 um 17:00 Uhr

Veranstaltungsort: LANGER EMV-Technik GmbH Rosentitzer Str. 73 01728 Bannewitz in Sachsen

Ausgehend von den Grundlagen der EMV-Technik vermitteln wir Kenntnisse über die tatsächlichen EMV-Wirkzusammenhänge auf Baugruppen. Alle theoretischen Aussagen werden sofort experimentell geprüft.Einer unserer erfahrenen Entwicklungsingenieure führt durch das Experimentalseminar.

lesen
Logo
11.09.2013

Artikel

Die EMV an einem IC betrachtet – zwei Messmethoden im Vergleich

Um die EMV-Eigenschaften eines ICs zu bewerten, lassen sich zwei Messmethoden verwenden: die TEM-Zelle und die IC-Streifenleitung. Wir stellen beide Verfahren gegenüber.

lesen
Logo
15.03.2013

Nachrichten

Analoger LWL - Taspkopf Typ A300

Das System Typ A300 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

lesen
Logo
15.03.2013

Nachrichten

Analoger LWL - Tastkopf Typ A200

Das System Typ A200 wird genutzt, um analoge elektrische Signale unter extremer elektronischer Störbeanspruchung ohne Rückwirkung auf den Prüfling zu messen. Das analoge optische Signal wird in ein optisches Signal gewandelt und über Lichtwellenleiter zum Empfänger am Oszillos...

lesen
Logo
15.03.2013

Produkte

IC Scanner Typ ICS 105

Der IC Scanner Typ ICS 105 mit seinem Verfahrweg 50 x 50 x 50mm und seiner Schrittweite von 10µm ist entwickelt worden, um über ein offenen DIE kontaktlos messen zu können. Mittels einer ICR Nahfeldsonde ist eine HF-Feldmessungen bis 6GHz und einer Auflösung bis 50µm über den ...

lesen