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24.10.2016

Veranstaltungen

Langer EMV-Technik GmbH auf der Messe electronica München 2016

08.11.2016 um 09:00 Uhr - 11.11.2016 um 16:00 Uhr

Veranstaltungsort: electronica München; Messegelände

Die Langer EMV-Technik GmbH präsentiert sich und ihre Produkte auf der Weltleitmesse für Komponenten, Systeme und Anwendungen der Elektronik Stand: A1.124 Langer EMV-Technik forscht, entwickelt, produziert und berät auf dem Gebiet der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV)

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20.10.2016

Veranstaltungen

X. Mittweidaer EMV-Tag - Gewährleistung der EMV – Eine wesentliche Voraussetzung zur erfolgreichen Umsetzung von Industrie 4.0

03.11.2016 von 09:00 Uhr - 17:00 Uhr

Veranstaltungsort: Fachhochschule Mittweida

Ausstellung und Workshop von Dipl. Ing. Sven König "7-Punkte-Plan für eine effektive Geräteentstörung bei Burst, ESD und HF" Eintritt zur Veranstaltung kostenfrei

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11.10.2016

Veranstaltungen

Langer EMV-Technik GmbH auf dem 14. EMV-Industrieseminar Magdeburg

25.10.2016 von 09:00 Uhr - 16:00 Uhr

Veranstaltungsort: Magdeburg - Experimentelle Fabrik

Die Langer EMV-Technik GmbH präsentiert sich und ihre Produkte auf dem 14. EMV-Industrieseminar Magdeburg. EMV-Technik forscht, entwickelt, produziert und berät auf dem Gebiet der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) 20 Jahre Langer EMV-Technik GmbH Wir entstören und opti

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06.10.2016

Veranstaltungen

EMV Experimentalseminar Störaussendung Teil 1

20.10.2016 um 08:00 Uhr - 21.09.2016 um 17:00 Uhr

Veranstaltungsort: 01728 Bannewitz; Rosentitzer Straße 73

Im Grundlagenseminar Störaussendung Teil 1 lernen Sie Methoden zu Analyse und Optimierung der EMV-Eigenschaften von Schaltungen und Geräten. An Schaltungsmodellen analysieren wir den Zusammenhang zwischen Nah- und Fernfeldern. Darauf aufbauend werden Strategien zur Baugruppeng

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04.10.2016

Artikel

Vom Gerätetest zu einem IC-Testsystem, Teil 1

Die EMV-Anforderungen einzuhalten ist eine anspruchsvolle Aufgabe für den Entwickler. Im ersten Teil unserer Serie zeigen wir, wie die Störfestigkeit auf dem Niveau eines ICs untersucht wird.

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04.10.2016

Produkte

Leitungsgebundene HF-Messung nach IEC 61967-4, 1 Ohm / 150 Ohm

Das Probe-Set dient zur Messung der leitungsgebundenen Aussendungen (Messung mit direkter 1 Ohm / 150 Ohm-Kopplung) nach IEC 61967-4 an IC-Pins. Für die Strom- und Spannungsmessung steht jeweils eine Probe zur Verfügung. Jedes Pin des Test-ICs kann mit der Probe erreicht.

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27.09.2016

Veranstaltungen

EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Teil 1

18.10.2016 um 08:00 Uhr - 19.10.2016 um 17:00 Uhr

Veranstaltungsort: 01728 Bannewitz; Rosentitzer Straße 73

Das EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Teil 2 des Gunter Langer Ingenieurbüros ist ein Aufbau-Seminar. Ihr EMV Grundlagenverständnis wird vertieft. Besondere EMV Problemfälle wie die Signalbeeinflussung an Schnittstellen oder die Beeinflussung durch ESD werden im Zusammenh

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20.09.2016

Nachrichten

Schnelle transiente Pulse über magnetisches Feld in ICs einkoppeln

ICI HH500-15 L-EFT ist eine Magnetfeldquelle, die über dem Test-IC (open Die) angeordnet wird. Sie erzeugt schnelle transiente Pulse (< 2ns Anstiegszeit). Die Überwachung der Pulse erfolgt über den Messausgang der Magnetfeldquelle.

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26.04.2016

Veranstaltungen

Webinar: Electromagnetic Emissions: Measurement Without an Anechoic Chamber

28.04.2016 um 13:00 Uhr - 28.03.2016 um 13:45 Uhr

Veranstaltungsort: http://www.emclive2016.com/2016/02/19/electromagnetic-emission-measurement-without-an-anechoic-chamber-2/

Thursday, April 28, 2016 | 10:00 am - 10:45 am EDT, Webinar: Imagine, your production-ready electronic device has just failed an EMC radiated emissions test. Wouldn’t it have been better to discover and solve this problem much earlier, during the initial design cycle? In this

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21.04.2016

Nachrichten

Noch 7 Tage..... Registrieren Sie sich zum Webinar: Electromagnetic Emissions: Measurement Without an Anechoic Chamber

Register NOW ! For our free Webinar! Thursday, April 28, 2016 | 10:00 am - 10:45 am EDT

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