Drei verschiedene Messprobes bietet Langer EMV für die Pulseinkopplung in IC-Dies. Damit lassen sich IC auf Störfestigkeit hin untersuchen oder eine Seitenkanal-Analyse.

Durch Messen der Koppelinduktivität können die Auswirkungen der Steckverbinder auf die angeschlossenen Signale im System vorab bestimmt werden. Im Beitrag lesen Sie, wie das funktioniert.

Die EMV-Anforderungen einzuhalten ist eine anspruchsvolle Aufgabe für den Entwickler. Im zweiten Teil gehen wir auf die Strukturbreite ein und wie sich die Störfestigkeit beherrschen lässt.

Die EMV-Anforderungen einzuhalten ist eine anspruchsvolle Aufgabe für den Entwickler. Im ersten Teil unserer Serie zeigen wir, wie die Störfestigkeit auf dem Niveau eines ICs untersucht wird.

Die Treiber und Empfänger der Hochgeschwindigkeits-Schnittstelle LVDS können Störungen aussenden. Mit einer Nahfeldsonde kann der Testingenieur die Schnittstellen untersuchen und Gegenmaßnahmen einleiten.

Die Magnetfeldquelle BS 06DB-s dient der Erzeugung eines EFT/Burst-Magnetfelds. Die Feldquelle wird über ein HV-Kabel von einem EFT/Burstgenerator (IEC 61000-4-4) mit EFT/Burst Strom gespeist.

Trotz komplexerer EMV-Probleme sind nicht immer komplizierte EMV-Werkzeuge notwendig. Hier erfahren Sie, wie sich eine Automobilbaugruppe überschaubar untersuchen lässt.

Mikroprozessoren und Mikrocontroller sollen universell in verschiedene Applikationen eingebaut werden. Allerdings treten bei hoher Inte-gration Störfelder auf. Wir zeigen mögliche Fehlerquellen.

An kritischen Bauteilen eines Prototypen sollten unbedingt die EMV-Anforderungen ermittelt werden. Bei großen Projekten ist es ratsam, den Hersteller mit ins Boot zu holen.

Normgerechte Messaufbauten lassen wenig Spielraum, tiefgründig Fehler zu analysieren. Am Beispiel der Störfestigkeitsmessung stellen wir verschiedene Messvarianten vor.