Strukturelle Tests und Diagnosen

Kombination von Boundary Scan und JTAG-Emulation

Bereitgestellt von: GÖPEL electronic GmbH

Kombination von Boundary Scan und JTAG-Emulation

Dieses Whitepaper informiert über die Herausforderungen des zukünftigen Testens und informiert über die Vorteile der Fusion von Boundary Scan und Emulation Test.

Boundary Scan und JTAG-Emulation sind zwei einander hervorragend ergänzende Methoden, welche durch eine neu entwickelte Technologie zu einem flexiblen und leistungsstarken Team für fortgeschrittene strukturelle Tests verschmolzen werden. Aufgrund der organischen Implementierung ist eine einfache Migration von JTAG-Emulationstest in vorhandene Boundary Scan Projekte möglich. Der Einsatz dieser Technolgoie setzt das Potential beider Techniken vollständig frei und ermöglicht bei deutlich reduzierten Kosten eine wesentlich höhere Testqualität, kürzere Test und Programmierzeiten und beste Diagnosegüte.

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Publiziert: 05.03.10 | GÖPEL electronic GmbH

Anbieter des Whitepapers

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07745 Jena
Deutschland