Fraunhofer IPM

Kamerabasiertes Inspektionssystem mit extrem schneller paralleler Bildverarbeitung erkennt Produktionsfehler

08.07.2009 | Redakteur: Andreas Mühlbauer

Eine extrem schnelle parallele Bildverarbeitung des Fraunhofer IPM erlaubt die Aufnahme und Auswertung sehr großer Bilddatenmengen in sehr kurzer Zeit. So lassen sich kleine Defekte wie z. B. fehlende Lötkontakte oder falsche Bauteile auch auf großen Flächen sehr schnell detektieren.
Eine extrem schnelle parallele Bildverarbeitung des Fraunhofer IPM erlaubt die Aufnahme und Auswertung sehr großer Bilddatenmengen in sehr kurzer Zeit. So lassen sich kleine Defekte wie z. B. fehlende Lötkontakte oder falsche Bauteile auch auf großen Flächen sehr schnell detektieren.

Dank einer extrem schnellen, parallelen Bildverarbeitung können Wissenschaftler des Fraunhofer IPM große Bilddatenmengen in sehr kurzer Zeit aufnehmen und auswerten. So lassen sich kleine Defekte selbst auf großen Flächen sehr schnell detektieren.

In der Produktion haben kleine und damit schwer zu erkennende Fehler oft eine große Auswirkung auf die Produktqualität: Eine einzige fehlende Lötstelle, ein winziger Lackfehler oder eine kleine geometrische Abweichung vom Sollwert bestimmen oft den Unterschied zwischen „Teil in Ordnung“ und „Ausschuss“. In der Produktion ist daher genaues Hinsehen gefragt. Aber was kann ein Hersteller tun, wenn in seiner Produktionslinie nur wenig Zeit für die Inline-Kontrolle zur Verfügung steht? Wenn der Fehler schon durch ein kurze Prüfung entdeckt werden muss?

Parallele Bildverarbeitung mit hoher Taktrate

Die Lösung ist ein kamerabasiertes Inspektionssystem mit einer extrem schnellen, parallelen Bildverarbeitung. Wissenschaftler vom Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM in Freiburg haben ein solches Bildverarbeitungssystem mit einer extrem hohen Taktrate entwickelt. Dieses Inline-fähige Inspektionssystem kann pro Sekunde bis zu sechs Bilder aufnehmen und gleichzeitig auswerten.

Mit anderen Worten: In rund 160 ms wird ein Bild mit 16 Megapixeln eingelesen, verarbeitet und zur Regelung herangezogen. Über diese Bildauflösung hinaus gelingt die Lokalisierung von Defekten, Objekten oder einer Abweichungen vom Sollwert sogar mit Sub-Pixel-Genauigkeit.

Je nach Anwendung skalierbar

Das vom Fraunhofer IPM neu entwickelte Inline-Messsystem ist je nach Anwendung skalierbar vom Sub-µm- bis in den m-Bereich. Kontrollieren lassen sich beispielsweise Oberflächen in der Fotovoltaik, integrierte Schaltkreise oder auch Glasoberflächen. Prinzipiell eignet sich das System überall dort, wo kleine Objekte, kleine Defekte oder kleine Abweichungen von Sollwerten in großen Datenmengen aufzuspüren sind. In der Produktionslinie lassen sich so vorgegebene Objekte oder Defekte auffinden, markieren oder auch zählen, ohne die Produktionszeit zu verlängern.

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