Deep Learning mit HSA macht Machine Vision sicherer

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Bild 3: Die SE-Störanfälligkeit (Störungen/Betriebsstunde) typischer Elektronikgeräte bei durchschnittlicher Neutronen-Hintergrundstrahlung. Um die unterschiedlichen Technologien zu vergleichen, Bild: Unibap
Bild 3: Die SE-Störanfälligkeit (Störungen/Betriebsstunde) typischer Elektronikgeräte bei durchschnittlicher Neutronen-Hintergrundstrahlung. Um die unterschiedlichen Technologien zu vergleichen, wurden die SER-Werte auf 1 GByte normalisiert.
Bild 3: Die SE-Störanfälligkeit (Störungen/Betriebsstunde) typischer Elektronikgeräte bei durchschnittlicher Neutronen-Hintergrundstrahlung. Um die unterschiedlichen Technologien zu vergleichen,