Elektronenmikroskop in der Analyse- und Werkstofftechnik

back 1/3 next
Bild 2: Darstellung eines ICs mit Topographiekontrast- und Materialkontrast-Aufnahme Bild: Zollner Elektronik
Bild 2: Darstellung eines ICs mit Topographiekontrast- und Materialkontrast-Aufnahme
Bild 2: Darstellung eines ICs mit Topographiekontrast- und Materialkontrast-Aufnahme