Bild 1: Testsysteme können beide Seiten einer Baugruppe untersuchen. Aber das Platzieren von Testpunkten ausschließlich auf
Bild 1: Testsysteme können beide Seiten einer Baugruppe untersuchen. Aber das Platzieren von Testpunkten ausschließlich auf einer Seite der Leiterplatte macht die Testvorrichtung weniger komplex. Ein entsprechend vorausschaundes, auf Testability optimiertes Design der Platine kann hier die Entwicklungskosten signifikant verringern. ( Bild: Altium )