In-Circuit-Test: Serie 6 verspricht höheren Durchsatz bei Leiterplatten

| Redakteur: Hendrik Härter

Kurze Signalwege zwischen Messschaltung und Prüfling bietet der In-Circuit-Tester (ICT) i3070 Serie 6 von Keysight.
Kurze Signalwege zwischen Messschaltung und Prüfling bietet der In-Circuit-Tester (ICT) i3070 Serie 6 von Keysight. (Bild: Keysight)

Die In-Curcuit-Testplattform i3070 Serie 6 basiert auf 30 Jahre Erfahrung. Das System ist zu hundert Prozent abwärtskompatibel und das Halterungssystem bietet einen kurzen Signalweg zwischen Messschaltung und Prüfling.

Für einen Elektronikhersteller aus den Bereichen 5G, Internet of Things (IoT) aber auch die Automobil- und Energiebranche kommt es auf einen hohen Durchsatz sowie konsistente und reproduzierbare Ergebnisse an. Getrieben wird die Elektronikbranche außerdem von hochkomplexen, vernetzten globalen Produktionsstätten. Bereits seit 1989 bietet Keysight (damals noch unter HP) den In-Curcit-Test mit der Serie 1 an. Weiter ging es für den Leiterplattentest mit der Serie 2 im Jahr 1994 über die Serie 3 1998 bis hin zur Serie 5 aus dem Jahr 2009. Jetzt bietet Keysight mit der Serie i3070 die vierte Generation seines IC-Testers für die Leiterplattenfertigung an. Damit basiert die In-Curcit-Testplattfom auf dreißig Jahre Erfahrung.

Dabei ist ein Punkt der aktuellen Generation interessant: Keysight verspricht 100-prozentige Abwärtskompatibilität bis zur Serie 1. Neben der Abwärtskompatibilität unterstützt die Serie 6 eine breite Palette von PCBA- (Printed-Circuit-Board-Assembly-)Größen für unterschiedliche Anwendungen. Erwähnenswert an dieser Stelle sind die kurzen Signalwege zwischen Messschaltung und Prüfling. Dadurch lassen sich unerwünschte Effekte durch parasitäre Kapazitäten minimieren und die Immunität gegen Übersprechen verbessern. Außerdem eliminieren kurze Signalwege sogenannte Streusignalkopplungseffekte. Der Anwender erhält konsistente und reproduzierbare Messungen.

Schnellerer Boundary Scan

Die Serie 6 verspricht außerdem eine verbesserte Testeffizienz mit bis zu viermal schnelleren Boundary Scan, Silicon Nails und dynamischer Flah-Programmierung, um den Durchsatz zu verbessern und die Fertigungsgeschwindigkeit zu erhöhen. Außerdem bietet das In-Curcit-Testsystem zertifizierte M2M-Funktionen (Machine-to-Machine) wie IPC Connected Factory Exchange (IPC-CFX) und Standards nach IPC-HERMES-9852. Selbst bei der Softwarelizenzierung setzt Hersteller Keysight auf transparente Lizenzkosten, in dem das Lizenzmanagement zentralisiert ist und die Skalierbarkeit an die Produktionsanforderungen anpasst.

Auch beim Support unterstützt Keysight den Anwender: Über eine Web-Applikation lässt sich in Echtzeit ein Call eröffnen und Probleme besprechen. Dabei ist die Datenverbindung verschlüsselt und sicher. Bestückte Leiterplatten werden global gefertigt – aufgrund markoökonomischer Gegebenheiten verlagern die Hersteller ihre Fertigung an günstige Standorte. Somit ist es eine Anforderung eines In-Curcuit-Testsystems, eine geografisch übergreifende Flexibilität zu bieten, bei dem ein auf deinem System geschriebenes Testprogramm schnell zu einem anderen System transportiert werden kann, das möglicherweise Kontinente entfernt ist.

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