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Fehlersuche IAR erlaubt Hochgeschwindigkeits-Debugging mit USB-3-Unterstützung

| Redakteur: Franz Graser

Der schwedische Embedded-Software-Spezialist IAR Systems hat eine Debugging-Sonde namens I-jet Trace vorgestellt. Die Probe bietet umfangreiche Debugging- und Tracing-Funktionen und High-Speed-Kommunikation per USB 3.0.

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Die Sonde I-jet Trace von IAR nutzt die Embedded-Trace-Macrocell-Technik (ETM) der ARM-Prozessoren. Auf diese Weise lassen sich laut Hersteller Fehler entdecken, die anderweitig nur schwer oder gar nicht zu finden wären.
Die Sonde I-jet Trace von IAR nutzt die Embedded-Trace-Macrocell-Technik (ETM) der ARM-Prozessoren. Auf diese Weise lassen sich laut Hersteller Fehler entdecken, die anderweitig nur schwer oder gar nicht zu finden wären.
(Bild: IAR)

Die Probe unterstützt alle ARM Cortex-M Cores, inklusive des neuen ARM Cortex-M7, mit Embedded Trace Macrocell (ETM). ETM verfolgt jeden einzelnen ausgeführten Befehl und gewährt damit dem Entwickler einen einzigartigen Einblick in die Aktivitäten des Mikrocontrollers. Auf diese Weise lassen sich selbst Fehler finden, die anders nur schwer oder sogar unmöglich zu identifizieren wären.

I-jet Trace stellt eine Speicherkapazität von 32 Mega-Samples zur Verfügung und ist darauf ausgelegt, die Schnelligkeit und Stromversorgung per SuperSpeed USB 3-Kommunikationsport voll auszunutzen – was echtes High-Speed-Debugging erst möglich macht. Die Probe verfügt über eine Trace-Taktfrequenz von bis zu 150 MHz in Echtzeit und einen Serial Wire Output (SWO) mit Manchester- und UART-Codierung für Geschwindigkeiten von bis zu 200 Mbit pro Sekunde. Die Trace-Daten werden vom C-SPY-Debugger der Entwicklungsumgebung IAR Embedded Workbench gesammelt und dort in verschiedenen Fenstern visualisiert und analysiert.

Die Sonde I-jet Trace ist ein wichtiger Baustein in IAR Systems’ Angebot an In-Circuit-Debugging-Probes. Das Sortiment deckt verschiedenste Anforderungen von der grundlegenden bis hin zur fortgeschrittenen Entwicklung ab und zielt auf einen einfachen, nahtlosen und flexibleren Entwicklungsworkflow. Alle Produkte sind vollständig in die IAR Embedded Workbench integriert und bieten Zugang zu IAR Systems‘ Support und Produktpflege.

Die vollständige Debugging-Lösung von I-jet Trace und C-SPY schließt auch das Power-Debugging ein: Diese Technik versorgt den Entwickler mit Informationen darüber, wie sich die Software-Implementierung eines Embedded-Systems auf den Stromverbrauch eines Systems auswirkt.

I-jet Trace kann in Verbindung mit der I-scope Probe von IAR Systems genutzt werden. Der Entwickler erfährt damit mehr über den Stromverbrauch einzelner Module, kann Designfehler im Code identifizieren, die zu unnötigem Stromverbrauch führen, und erhält somit die Möglichkeit, die Laufzeit der Batterie zu verlängern.

I-jet Trace unterstützt JTAG und Serial Wire Debug (SWD) mit einer Taktfrequenz von bis zu 100 MHz. Unterstützt werden USB 3.0 und USB 2.0. Die Sonde kann das Zielboard vollständig über USB 3 mit Strom versorgen, optional aber auch über eine externe Energiezufuhr.

„Mit I-jet Trace geben wir dem Entwickler eine Top-Technologie an die Hand“, sagte Mats Ullström, Product Director bei IAR Systems. „Vereinfacht gesagt, verfügt: I-jet Trace über alle Funktionen unseres nutzerfreundlichen I-jets, aber bietet noch mehr Performance sowie volle ETM-Trace-Funktionalitäten. Für die Embedded-Industrie ist es ganz entscheidend, dass immer mehr Entwicklern fortschrittliche Debugging-Funktionen zur Verfügung stehen – und dafür sorgen wir.“

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