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Prüftechnik I/O-Modul erweitert die Testbarkeit von Baugruppen

| Redakteur: Franz Graser

Der Jenaer Prüftechnik-Spezialist GÖPEL electronic ergänzt mit dem SFX-5296LX die Produktpalette der Boundary-Scan-Plattform Scanflex um ein Mixed-Signal-I/O-Modul. Dadurch lassen sich etwa Baugruppen testen, die nur einen Boundary-Scan-fähigen IC besitzen.

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Das I/O-Modul SFX-5296LX mit insgesamt 96 Single-Ended-Kanälen kann den Boundary-Scan-Test auch auf nicht scan-fähige Schaltungsteile wie Steckverbinder, Cluster oder Analog-Interfaces ausdehnen.
Das I/O-Modul SFX-5296LX mit insgesamt 96 Single-Ended-Kanälen kann den Boundary-Scan-Test auch auf nicht scan-fähige Schaltungsteile wie Steckverbinder, Cluster oder Analog-Interfaces ausdehnen.
(Bild: Göpel electronic )

Das Modul bietet eine leistungsfähige Lösung zur Erweiterung des Boundary-Scan-Verfahrens auf scan-unfähige Partitionen. Dadurch ist es möglich, zum Beispiel Baugruppen zu testen, die über nur einen Boundary-Scan-fähigen IC verfügen.

Das SFX-5296LX verfügt pro Kanal über diverse dynamische Testressourcen wie Frequenzzähler, Event-Detector, Arbitrary oder Digitizer. Mit insgesamt 96 Single-Ended-Kanälen wird der Boundary-Scan-Test auch auf nicht scan-fähige Schaltungsteile wie Steckverbinder, Cluster oder Analog-Interfaces ausgedehnt.

Zur Steigerung der Flexibilität ist jeder Kanal als Input, Output und Tri-State konfigurierbar und kann darüber hinaus in vielen Parametern programmiert werden. Dazu gehören schaltbare Pull Up, Pull Down oder wählbare Flankensteilheit der Treiber.

Das SFX-5296LX benutzt den parallelen SFX-I/O-Bus und ermöglicht wesentlich schnellere Datentransfers als die seriell per TAP angesteuerten I/O Module. Aufgrund der pro Kanal verfügbaren Testressourcen sind sowohl statische als auch dynamische at-speed-Tests realisierbar, was eine signifikante Verbesserung der strukturellen Fehlerabdeckung und flexiblere Teststrategien ermöglicht. Dabei wird nur ein SFX-Slot benötigt, wobei zur Erhöhung der Kanalzahl auch mehrere Module gleichzeitig operieren können.

Das Modul basiert auf dem von GÖPEL electronic entwickelten ASIC CION-LX, einem multifunktionalen Mixed-Signal-Tester-on-Chip (ToC).

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