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Flying-Probe-Tester Gleichzeitiges Testen beider Bauelementeseiten

Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Der Flying-Probe-Tester APT-9600CE ist für die Prüfung von Leiterplatten kleiner und mittlerer Stückzahlen gedacht. Zwei frei programmierbare Proben auf der Unterseite ermöglichen

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( Archiv: Vogel Business Media )

Der Flying-Probe-Tester APT-9600CE ist für die Prüfung von Leiterplatten kleiner und mittlerer Stückzahlen gedacht. Zwei frei programmierbare Proben auf der Unterseite ermöglichen das gleichzeitige Testen von zwei Seiten. Optional lässt sich die Moving-Bottom-Probe-Einheit mit IC-Open-Sensoren oder verfahrbaren Support-Pins ausstatten.

Eine optische Inspektion kann die Ober- und Unterseite des Prüfstückes überprüfen. Neben Lageerkennung lassen sich auch optische Tests durchführen, die sich elektrisch nicht untersuchen lassen. Fehlende, falsch ausgerichtete oder verpolte Bauteile lassen sich detektieren. Der IC-Open Test dient der Erkennung nicht gelöteter IC-Kontakten auch in Bus-Systemen. Die Sensing-Probe-Technologie findet auch ungelötete IC-Kontakte auf QFPs und SOPs sowie fehlerhafte Lötverbindungen der meisten BGAs.

ITOCHU, Tel. +49(0)211 56353100

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