Kombinationstester Für Flying-Probe- und HF-Tests

Redakteur: Dr. Anna-Lena Gutberlet

Die Entwicklung hin zu immer kleineren Bauteilen und Strukturen in der Elektronik-Branche lässt den Designern wenig oder keinen Raum für Testpunkte.

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Der Pilot 4D V8 HF von Seica kombiniert Flying-Probe mit HF-Tests.
Der Pilot 4D V8 HF von Seica kombiniert Flying-Probe mit HF-Tests.
(Bild: Seica)

Darüber hinaus führte das Vordringen von Hochfrequenz-Technologien zu einem steigenden Bedarf an Testequipment, das diese typischerweise sehr kleinen Schaltungen verifizieren kann. Das Testen von Leiterplatten-Baugruppen ohne dedizierte Testpunkte ist mit Flying-Probe-Systemen zuverlässig möglich.

Der zusätzliche Bedarf, Hochfrequenzsignale zu messen, ist jedoch eine neuartige Herausforderung. Die Pilot4D V8 HF von Seica verbindet die Flying-Probe-Technologie mit Hochfrequenz-Tests. Die hochpräzisen Tastköpfe des Pilot V8-System kontaktieren selbst winzigste Bauteile bis herab zu 008004-Chips.

In diese Tastköpfe wurden Hochfrequenz-Mess-Systeme integriert, die HF-Signale bis zu 1,6 GHz verifizieren können. Zu den möglichen Messungen zählen Taktfrequenz, Anstiegs- und Abfallzeiten sowie Setup- und Hold-Zeiten kritischer Signale. Das System Pilot4D V8 HF verfügt über eine integrierte LabVIEW/TestStand-Schnittstelle. Das Testsystem umfasst auch herkömmliche ICT-Fähigkeiten.

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