Nahfeldmikrosonden

Feldmessungen an IC und Flachbaugruppen

16.01.2007 | Redakteur: Hendrik Härter

Anwendungsgebiet der Nahfeldmikrosonden von Langer EMV sind Messungen magnetischer oder elektrischer Nahfelder mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit. Die Sonden sind für Feldmessungen

Anwendungsgebiet der Nahfeldmikrosonden von Langer EMV sind Messungen magnetischer oder elektrischer Nahfelder mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit. Die Sonden sind für Feldmessungen an IC und auf Flachbaugruppen bestimmt. Die ICR-Sondenköpfe haben einen Durchmesser von 500 bis 150 µm.

Aufgrund ihrer Größe und Konstruktion ist die getrennte Untersuchung der E- und H-Felder an IC (Die-Oberfläche, Bonddrähte, PIN) und an Feinleiterbaugruppen möglich. Sie bewegen sich ca. 20 µm über das Messobjekt und ermöglichen eine hochauflösende und getrennte Erfassung der E- und H-Nahfelder bis 3 GHz. Die Auflösung und Empfindlichkeit der Sonden erfordern die Durchführung der Messungen mit Manipulatoren. Ein Verstärker ist im Sondengehäuse integriert.

Langer EMV, Tel. +49(0)351 43009323

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