EMV-Konformität

EMV Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen

Bereitgestellt von: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG

EMV-Konformität

EMV Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen

Im Webinar erfahren Sie, wie mit der FFT-Funktion digitaler Oszilloskope von Rohde & Schwarz in Kombination mit Nahfeldsonden EMV Probleme in Embedded Designs analysiert werden können.

Gesetzliche Regelungen in allen Wirtschaftsräumen fordern für jedes elektrische oder elektronische Gerät EMV Konformität. Damit wird sichergestellt, dass die Funktion oder auch der Funkempfang anderer Geräte nicht gestört wird. Die EMV Konformität stellt eine zusätzliche Hürde in der Produktentwicklung und führt häufig zu unerwünschten Produktverzögerungen.
 
Mit den digitalen Oszilloskopen R&S®RTO und R&S®RTE stehen leistungsfähige Geräte zur Verfügung mit welchen direkt am Arbeitsplatz des Entwicklers EMV Probleme analysiert werden können. Die leistungsfähige Implementierung der FFT (Fast Fourier Transformation) Funktion ermöglicht eine schnelle Update-Rate der Spektralanzeige und bietet durch überlappende FFT Segmente und die farbcodierte Darstellung Einblick in die Zeit-Frequenz-Struktur von unerwünschten Emissionen.
 
In Kombination mit Nahfeldsonden kann der Entwickler die Quelle von Störemissionen auf Leiterplatten lokalisieren und Abhilfemaßnahmen untersuchen. Damit können im Nachgang, aber auch im Vorfeld von EMV-Konformitätstests, EMV-Probleme analysiert und Gegenmaßnahmen untersucht werden.
 

Veranstalter des Webinars

Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG

Mühldorfstr. 15
81671 München
Deutschland

Datum:
29.04.2014 11:00