Testlösung Elektronische Baugruppen prüfen

Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

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Digitaltest und JTAG haben gemeinsam ein Boundary-Scan Testverfahren von JTAG Technologies in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert. Die DSP-basierten analogen Messungen erlauben einen Kurzschlusstest über 1000 Punkte pro Sekunde. Garantiert werden Testfunktionen als auch eine In-System-Programmierung mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware-Controller JT 3727/DPC. Die Testlösung unterstützt ISP für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile. Außerdem Mikrocontroller-Familien mit einem embedded Flash-Speicher.

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Link: MTS300

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