AOI-System mit zwei Testköpfen Doppelseitig bestückte Leiterplatten schneller prüfen

Redakteur: Claudia Mallok

Das AOI-System LaserVision CompactTWIN von Prüftechnik Schneider & Koch hat einen zweiten Testkopf, womit doppelseitig bestückte Baugruppen zeitgleich von oben und unten geprüft werden.

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Das AOI-System LaserVision CompactTWIN von Prüftechnik Schneider & Koch hat einen zweiten Testkopf, womit doppelseitig bestückte Baugruppen zeitgleich von oben und unten geprüft werden. Damit entfällt das Wenden und der zweite Prüfschritt für die Baugruppenunterseite.

Das LaserVision CompactTWIN erfüllt alle typischen Inspektionsaufgaben wie Lötstellenkontrolle, Kurzschlusstests, Schriften- und Barcodeerkennung, Prüfung von Bestückungswinkeln sowie Prüfung von Anwesenheit, Lage und Polarität von THT- und SMD-Bauteilen. Farbkameras mit Megapixel-Technologie und telezentrischem Objektiv gestatten Aufnahmen in diversen Auflösungen.

Es können Bauteile mit einer beidseitigen Bestückhöhe von bis zu 45 mm inspiziert werden. Das AOI-System ist modular aufgebaut und kann je nach Anforderung als einseitiges oder doppelseitiges AOI-System genutzt werden. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, 3D-Prüfungen durch die Integration eines zusätzlichen Schrägblick-Moduls durchzuführen. Die ausgereifte Systemsoftware ermöglicht eine einfache und schnelle Prüfprogrammerstellung und stellt Prüfergebnisse übersichtlich dar.

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