Prüftechniken Digitaltest erweitert Flying-Probe-Tester Condor

Redakteur: Franz Graser

Die aktuelle Generation des Flying-Probe-Testsystems Condor MTS 505 von Digitaltest weist eine höhere Testabdeckung auf, ist wartungsarm und kann größere und schwerere Boards testen.

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Mit ausgefeilten Softwarefunktionen, Hardwareinnovationen, Boundary-Scan-Integrationen von JTAG Technologies und Göpel Electronic sowie neuen Flying Probe- und Open Check-Nadeln ist der Condor für die Zukunft des adapterlosen Testens gerüstet.
Mit ausgefeilten Softwarefunktionen, Hardwareinnovationen, Boundary-Scan-Integrationen von JTAG Technologies und Göpel Electronic sowie neuen Flying Probe- und Open Check-Nadeln ist der Condor für die Zukunft des adapterlosen Testens gerüstet.
(Bild: Digitaltest)

Mit zusätzlichen ausgefeilten Softwarefunktionen, Hardwareinnovationen, Boundary-Scan-Integrationen von JTAG Technologies und Göpel Electronic sowie neuen Flying Probe- und Opens Check-Nadeln ist der Condor für die Zukunft des adapterlosen Testens gerüstet.

Die Technik der neuen Prüfnadeln erlaubt geringere Nadelabstände. Somit sind eine höhere Testabdeckung und präzisere Kontaktierung möglich. Auch die Opens Check-Nadeln können stabilere Messergebnisse liefern.

Außerdem ist im Rahmen eines Forschungsprojekts (INPIKO) die Version 2.0 des Digitizers entwickelt worden (siehe Bild). Das Programm kann nun mehr als CAD-Daten wiederherstellen. Jetzt ist es möglich, vorhandene CAD-Daten aus eventuell vorgelagerten Prozessen zu importieren und zu nutzen. Zusammen mit einem Condor-Flying-Probe-Testsystem wird dadurch eine automatisierte Baugruppenanalyse ermöglicht.

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