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Test- und Debugssystem Debug für Prüfstationen und Testautomatisierung

| Redakteur: Sebastian Gerstl

SEGGER veröffentlicht mit dem J-Link BASE Compact und dem J-Link PLUS Compact kompakte Versionen der bewährten J-Link Debug Probes. Die neuen Modelle sind bestens geeignet, sicher und mit wenig zusätzlichem Einbauvolumen in Entwicklungssysteme oder Endgeräte eingebaut zu werden.

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Segger bietet sein Test- und Debugsystem J-Link nun auch in Compact-Modellen für Prüfstationen und Testautomatisierung an.
Segger bietet sein Test- und Debugsystem J-Link nun auch in Compact-Modellen für Prüfstationen und Testautomatisierung an.
(Bild: Segger)

Die J-Links werden über zwei Befestigungslöcher sicher im Gerät befestigt. Die Compact-Modelle ermöglichen fest verbaute Konfigurationen mit identischen Eigenschaften, Verhalten und Spezifikationen der entsprechenden J-Link Modelle. Die die J-Link Modelle der Compact Serie werden zumeist in Prüfstationen verbaut, die zur automatisierten Firmware Verifikation in der Entwicklung eingesetzt werden. Ebenso lassen sich die kompakten J-Links in Langzeittest-Apparaturen installieren.

Eine weitere Anwendung betrifft den Einsatz im Feld. Mit einem eingebauten J-Link Compact reduziert sich die Zahl der Werkzeuge, die Service-Techniker im Notfall mit sich herumschleppen müssen.

Weitere Informationen finden Sie auf der Webseite des Herstellers: www.segger.com.

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