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Datenbusse im Zeit- und Frequenzbereich gleichzeitig charakterisieren

| Redakteur: Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Unterschiedliche Hochgeschwindigkeits-Datenbusse wie HDMI, USB oder PCI Express lassen sich mit dem WavePulser 40iX untersuchen. Vorteil: Das Messgerät vereinheitlicht Zeit- und Frequenzbereichscharakterisierung.

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Hochgeschwindigkeits-Datenbusse lassen sich mit dem WavePulser 40iX sowohl in Zeit- als auch im Frequenzbereich charakterisieren.
Hochgeschwindigkeits-Datenbusse lassen sich mit dem WavePulser 40iX sowohl in Zeit- als auch im Frequenzbereich charakterisieren.
(Bild: Teledyne LeCroy )

Der WavePulser 40iX von Teledyne LeCroy ist ein Stand-alone-Werkzeug für Hardwareentwickler und Testingenieure, die Hochgeschwindigkeitsverbindungen und Kabeln analysieren und charakterisieren. Dazu gehören serielle Protokolle wie PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet und Automotive Ethernet. Test und Validierung von Verbindungen wurden getrennt zwischen Zeit- und Frequenzbereichtstest untersucht. Um die Signalintegrität zu untersuchen, verwenden Entwickler einen TDR, mit dem sich die Step-/Impulsantwort eines Impedanzprofisl charakterisieren lässt.

Ein TDR bietet eine hohe räumliche Auflösung, womit sich Störstellen entlang der Übertragungsleitung lokalisieren lassen. Für den Frequenzbereich Test werden VNAs eingesetzt. Sie bieten einen Dynamikbereich, um S-Parameter von Hochfrequenz-Komponenten zu messen. Passt der Entwickler einen High-Speed-Interconnect-Test an, so extrapolieren VNAs den Gleichstrom. Hinzu kommen unübersichtliche Analyse-Tools für die Simulation, Emulation, Zeitsteuerung und Jitter-Analyse der Zeitbereiche.

Der WavePulser 40iX vereinheitlicht Zeit- und Frequenzbereichscharakterisierung. Während einer Messung charakterisiert das Gerät vollständig die Frequenzen der S-Parameter und führt ein ein Impedanzprofil durch. Die S-Paramter stehen für weitere Untersuchungen bereit. Dabei wird der Anwender von einer umfangreichen Toolbox unterstützt. Außerdem charakterisiert das Messgerät serielle Datenkabel, Kanäle, Stecker, Durchkontaktierungen, Backplanes, Leiterplatten, Chip- und SoC-Packages.

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