Drehmomentschlüssel - zwei Modelle.

Aufbau und Kalibration eines Messplatzes bestehend aus einem 26,5 GHz Netzwerkanalysators (VNA) mit Virginia Diodes (VDI) Frequenzerweiterungen (frequency extenders, frequency Multipliers).

Mit einfachen mitteln wird die Funktionsweise eines Vakuum Chucks, wie er in Probe Stations für den On-Wafer-Test verwendet wird, gezeigt.

Große Leistungshalbleitermodule auf sichere und bequeme Weise elektrisch charakterisieren. Bedienerschutz durch automatische Verriegelung. Leichtgängige Rollen schaffen räumliche Flexibilität. Tests bis 1500A und 10kV.

So einfach lässt sich die berührungslose Probe Station von Teraprobes für Messungen im mmWellen Bereich in Betrieb nehmen.

Einer der vielen Vorteile der berührungslosen Probe Station von Teraprobes ist die einfache und unkomplizierte Kalibration. Sehen Sie hier wie einfach diese ist.

Elektrische Charakterisierung unhandlicher Halbleitermodule. Schutz des Bedieners durch automatische Verriegelung. Leichtgängige Rollen machen das Testsystem räumlich flexibel. Mögliche Tests bis zu 1500A oder 10kV. Verschiedene Ausstattungsvarianten.

CV Messungen an Halbleiterbauelementen in Verbindung mit dem Keysight B1505A. Messungen der Bauelementekapazitäten Cds und Cgd bei „Normally Off“ Bauteilen. Kombiniert die Testsignale der MFCMU des B1505A und des N1268A Ultra High Voltage Expanders.