Inline-3-D-Röntgeninspektion Agilent stellt das schnellste Inline-fähige AXI-System vor

Redakteur: Claudia Mallok

Mit dem jüngsten AXI-System Medalist x6000 setzt Testerspezialist Agilent einen Meilenstein bei der Inline-3-D-Röntgeninspektion. Zu einer hohen Fehlerabdeckung aufgrund der eingesetzten 3-D-Technologie kommt ein im Vergleich zu anderen 3-D-Lösungen mehr als doppelt so hoher Durchsatz beim Testen insbesondere von dicht bestückten Baugruppen.

Anbieter zum Thema

Das Nachfolgemodell für das 3-D-Röntgeninspektionssystem Agilent Medalist 5DX, von dem nach Angaben des Testerherstellers weltweit über 800 Systeme installiert sind, ist da: Produktname Medalist x6000. Darin, so Kent Dinkel, Marketingmanager für AXI-Lösungen bei Agilent, stecke die gesamte Erfahrung mit Röntgeninspektionssystemen des Testerherstellers. Dinkel: „Das System kombiniert neueste 3-D-Technologie mit unerreichter Durchsatzleistung und Fehlerabdeckung.“ Das System ist prädestiniert für die Prüfung von besonders komplexen Baugruppen auf Löt- und Bestückungsfehler.

Im Vergleich zu marktführenden Inline-3-D-Röntgeninspektionssystemen erreiche das Medalist x6000 einen mehr als doppelt so hohen Testdurchsatz. Mit Inline-Geschwindigkeit und bei größtmöglicher Fehlerabdeckung wird die gesamte Baugruppe einer 3-D-Inspektion unterzogen.

Bildergalerie

„In der Vergangenheit wurden für die Inspektion einfacher, vorzugsweise nur einseitig bestückter Leiterplatten schnelle 2-D-Systeme eingesetzt“, erläutert Kent Dinkel. Für doppelseitig bestückte Leiterplatten ist allerdings eine 3-D-Inspektion erforderlich, weil nur 3-D-Verfahren zwischen Ober- und Unterseite der Leiterplatte unterscheiden können. In den meisten Fällen haben beide Seiten eine hohe Lötstellendichte. Bei typischen Baugruppen für die Telekommunikation und Computerprodukte überlappen sich die Lötstellen auf der Leiterplattenober- und -unterseite um 35% oder mehr.

„In dieser Situation liefern 2-D-Lösungen keine ausreichende Fehlerabdeckung mehr“, betont Dinkel. Systeme, die schnelle 2-D-Inspektion und langsame 3-D-Inspektion miteinander kombinieren, mögen zwar auf den ersten Blick sinnvoll erscheinen, der Gesamtdurchsatz einer solchen Lösung mag meist allerdings nicht überzeugen, so der AXI-Experte.

Das Medalist x6000 punkte aber nicht nur hardwareseitig, die Entwickler haben auch an die Software gedacht. Eine neue Entwicklungsumgebung des Systems stellt diverse Automatismen für die Entwicklung von Inspektionsprogrammen bereit. Auf diese Weise lassen sich hochwertige Testprogramme mit hoher Fehlerabdeckung in der Hälfte der Zeit, die man bisher benötigte, erstellen.

Detaillierte Informationen über das AXI-System Medalist x6000 finden Sie über unseren InfoClick-Service auf dem Internetportal www.elektronikpraxis.de.

(ID:209679)